[发明专利]测量方法以及测量装置

摘要

本发明的测量方法以及测量装置的特征在于，测量部(301)对基准轮胎反复执行获取一条线的测量数据的测量处理，从而获取多条线的测量数据。第一获取部(311)根据由测量部(301)测量出的多个测量数据中的各个测量数据来生成一条线的高度数据，将生成的多个一维高度数据排列为矩阵状，生成测量面的二维高度数据，并且生成基准形状数据。第二获取部(314)根据相对于对象轮胎而由测量部(301)测量出的一条线的形状数据来获取对象一维高度数据。去除部(315)比较对象一维高度数据和副扫描方向的位置与对象一维高度数据相同的基准形状数据的一维高度数据，从对象一维高度数据中去除凸部的高度成分。

主权项

一种测量方法，在该测量方法中，将形成有凸部的轮胎的胎面或者胎边面作为测量面，并对所述测量面的表面形状进行测量，其中，所述测量方法具备以下步骤：第一测量步骤，在该第一测量步骤中，向所述测量面照射点光，一边使所述点光在副扫描方向上挪动一边执行多次下述的测量处理，从而获取多个测量数据，在所述测量处理中，使所述点光在主扫描方向上扫描并接受反射光而获取一条线的测量数据；第一获取步骤，在该第一获取步骤中，根据所述多个测量数据中的各个测量数据来生成一维高度数据，并将生成的多个一维高度数据排列成矩阵状，从而生成所述测量面的二维高度数据；以及生成步骤，在该生成步骤中，使用轮廓提取滤波器从所述二维高度数据中提取所述凸部，并将提取出的凸部的位置与所述二维高度数据建立对应关系，从而生成基准形状数据。