[发明专利]测量方法以及测量装置在审

专利信息
申请号: 201380061313.1 申请日: 2013-10-10
公开(公告)号: CN104813138A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 荒木要;高桥英二 申请(专利权)人: 株式会社神户制钢所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;B60C19/00;G01C3/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张玉玲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测量方法 以及 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量方法,在该测量方法中,将形成有凸部的轮胎的胎面或者胎边面作为测量面,并对所述测量面的表面形状进行测量,其中,

所述测量方法具备以下步骤:

第一测量步骤,在该第一测量步骤中,向所述测量面照射点光,一边使所述点光在副扫描方向上挪动一边执行多次下述的测量处理,从而获取多个测量数据,在所述测量处理中,使所述点光在主扫描方向上扫描并接受反射光而获取一条线的测量数据;

第一获取步骤,在该第一获取步骤中,根据所述多个测量数据中的各个测量数据来生成一维高度数据,并将生成的多个一维高度数据排列成矩阵状,从而生成所述测量面的二维高度数据;以及

生成步骤,在该生成步骤中,使用轮廓提取滤波器从所述二维高度数据中提取所述凸部,并将提取出的凸部的位置与所述二维高度数据建立对应关系,从而生成基准形状数据。

2.根据权利要求1所述的测量方法,其中,

所述测量方法还具备以下步骤:

第二测量步骤,在该第二测量步骤中,对成为测量对象的对象轮胎的所述测量面执行所述测量处理,从而获取所述一条线的测量数据;

第二获取步骤,在该第二获取步骤中,基于通过所述第二测量步骤来获取的测量数据而生成一维高度数据;以及

去除步骤,在该去除步骤中,对通过所述第二获取步骤来获取的一维高度数据即对象一维高度数据、以及所述副扫描方向上的位置与所述对象一维高度数据相同的所述基准形状数据的一维高度数据进行比较,并从所述对象一维高度数据中去除所述凸部的高度成分。

3.根据权利要求2所述的测量方法,其中,

所述测量方法还具备跳动计算步骤,在该跳动计算步骤中,将通过所述去除步骤来去除所述高度成分后的所述对象一维高度数据的最高值与最低值之差计算为所述对象轮胎的跳动值。

4.根据权利要求1所述的测量方法,其中,

所述轮廓提取滤波器为索贝尔滤波器。

5.根据权利要求1所述的测量方法,其中,

在所述测量面为所述胎面的情况下,所述主扫描方向为轮胎的周向,所述副扫描方向为所述轮胎的宽度方向,

在所述测量面为所述胎边面的情况下,所述主扫描方向为以所述轮胎的旋转轴为中心的同心圆的方向,所述副扫描方向为所述轮胎的径向。

6.一种测量装置,其将形成有凸部的轮胎的胎面或者胎边面作为测量面,并对所述测量面的表面形状进行测量,其中,

所述测量装置具备:

测量部,其向所述测量面照射点光,一边使所述点光在副扫描方向上挪动一边执行多次下述的测量处理,从而获取多个测量数据,在所述测量处理中,使所述点光在主扫描方向上扫描并接受反射光而获取一条线的测量数据;

第一获取部,其根据所述多个测量数据中的各个测量数据来生成一维高度数据,将生成的多个一维高度数据排列起来,从而获取所述测量面的二维高度数据;以及

生成部,其使用轮廓提取滤波器从所述二维高度数据中提取所述凸部,并将提取出的凸部的位置与所述二维高度数据建立对应关系,从而生成基准形状数据。

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