[发明专利]测量方法以及测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及将形成有凸部的轮胎的胎面或者胎边面作为测量面而对测量面的表面形状进行测量的技术。

背景技术

轮胎具有层叠橡胶、化学纤维、钢丝帘线等各种材料而成的复杂的层叠构造。对于具有复杂的层叠构造的轮胎的接地面(胎面)而言，为了防止因轮胎的半径的变动而导致的纵向振动(径向跳动)，需要确保半径的均匀性，并抑制接地面的波动(跳动)。另一方面，胎边面除了跳动以外，有时还产生被称作凸起、凹痕的凹凸，这些也同样需要抑制。

因此，在轮胎的制造工序中，需要针对轮胎而检查胎面、胎边面的形状，并评价检查出的形状。

对此，在轮胎制造的最终工序(轮胎加硫后的检查工序)中，特别进行胎面的跳动值的测量、胎边面上的形状不合格的检查。在胎面上存在有槽、在胎边面上存在缘于文字、花纹的有意为之的凸部，近年来谋求在避免受到上述文字、花纹的影响的情况下测量轮胎形状的方法。

近年来，在测量轮胎的跳动值的技术中，进行如下尝试：使用激光距离传感器、三维形状测量装置、或者摄像机等来测量跳动值，并根据测量出的跳动值来自动地评价轮胎。

在专利文献1中公开有如下所述的形状测量装置：利用光学位移仪来测量轮胎的一线量的样本数据，从测量出的样本数据去除预先确定的信号模型，由此即便在轮胎的表面存在不必要的凹凸，也无须选择测量线地测量轮胎的形状。

在专利文献2中公开有如下所述的技术：使用非接触的位移仪沿周向扫描轮胎的胎面而获取轮胎旋转一周的数值数据，在注目位置的数值数据与注目位置前后的多个数值数据组的中位数之差大于阈值的情况下，将注目位置的数值数据判断为杂音。

在专利文献3中公开有如下所述的技术：在胎边面中，测量包括有意为之的凸部在内的位置和不包括该凸部的位置的两条线的轮胎表面的凹凸位移量而生成两条线的原波形A、B。接下来，生成表示所生成的原波形A、B的波动成分的近似曲线A1、B1，从原波形A、B中减去近似曲线A1、B1而生成凹凸波形A2、B2。接下来，将凹凸波形A2与凹凸波形B2相乘，对去除有意为之的花纹后的凹凸形状进行计算。然后，根据该凹凸形状来检测缺陷凹凸。

在专利文献4中公开有如下内容：将轮胎表面的一维的测量数据排列成圆状并转换为二维的测量数据，对二维的测量数据应用凸包型滤波器，提取位于凸包上的测量数据，并将提取出的测量数据恢复至一维的测量数据。

辨别表示轮胎的缺陷的凹凸与文字、花纹等有意形成的凸部是极其困难的，对于仅一条线的测量数据而言，无法将有意形成的凸部从测量数据中准确地去除，可能将凸部判断为表示缺陷的凹凸。

专利文献1、2、4均只测量一维的数据，因此存在无法准确地检测有意形成的凸部这样的问题。另外，在专利文献3中，虽然测量两条线的测量数据，但这两条线的测量数据在空间上分离，也存在无法准确地检测有意形成的凸部这样的问题。

另外，近年来，开发有使用线激光而一次性地获取一条线的测量数据的技术。然而，使用线激光的系统存在远比点激光式昂贵的问题。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开昭62-232507号公报

专利文献2：日本特开2008-286703公报

专利文献3：日本专利第3768625号

专利文献4：日本特表2012-513029号公报

发明内容

本发明的目的在于提供如下所述的技术：即便不使用线激光，也能够准确地提取有意形成在轮胎上的凸部，并从轮胎中排出凸部的影响，从而准确地测定轮胎的表面形状。

根据本发明的一方式的测量方法，在该测量方法中，将形成有凸部的轮胎的胎面或者胎边面作为测量面，并对所述测量面的表面形状进行测量，其中，所述测量方法包括以下步骤：第一测量步骤，在该第一测量步骤中，向所述测量面照射点光，一边使所述点光在副扫描方向上挪动一边执行多次下述的测量处理，从而获取多个测量数据，在所述测量处理中，使所述点光在主扫描方向上扫描并接受反射光而获取一条线的测量数据；第一获取步骤，在该第一获取步骤中，根据所述多个测量数据中的各个测量数据来生成一维高度数据，并将生成的多个一维高度数据排列成矩阵状，从而生成所述测量面的二维高度数据；以及生成步骤，在该生成步骤中，使用轮廓提取滤波器从所述二维高度数据中提取所述凸部，并将提取出的凸部的位置与所述二维高度数据建立对应关系，从而生成基准形状数据。

附图说明

图1是本发明的实施方式的测量装置1的整体结构图。