[发明专利]用于检测有缺陷的相机阵列、光学器件阵列和传感器的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201380040238.0 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN104508681B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: J·都帕尔;A·麦玛宏;D·勒勒斯古;K·文卡塔拉曼;G·莫里纳 申请(专利权)人: FOTONATION开曼有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;H04N9/64
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 宋岩
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 描述了用于检测有缺陷的相机阵列、光学器件阵列和/或传感器的系统及方法。一种实施例包括利用相机阵列捕捉图像数据;把捕捉到的数据分成多个对应的图像区域;通过评估所捕捉的图像中的图像区域,识别任意相机中局部缺陷的存在;以及,当特定图像区域集合中局部缺陷的个数超过预定的阈值时,利用图像处理系统检测到有缺陷的相机阵列,其中特定图像区域集合由以下构成:所捕捉的图像的至少一个子集中的共同对应图像区域;以及给定图像中包含沿源自所述给定图像中所述共同对应图像区域中一像素的极线位于预定最大视差移位距离内的至少一个像素的任何附加区域。
搜索关键词: 用于 检测 缺陷 相机 阵列 光学 器件 传感器 系统 方法
【主权项】:
1.一种利用图像处理系统检测有缺陷的相机阵列的方法,其中相机阵列包括多个相机,该方法包括:利用多个相机捕捉已知目标的图像数据,其中图像数据构成多个图像;利用图像处理系统把所述多个图像当中每一个分成多个对应的图像区域;利用图像处理系统通过根据至少一个预定的局部缺陷标准评估所述多个图像中的图像区域来识别所述多个相机当中至少一个中至少一个局部缺陷的存在;当特定图像区域集合中的局部缺陷的个数超过预定的阈值时,利用图像处理系统检测到有缺陷的相机阵列,其中所述特定图像区域集合由以下构成:所述多个图像的至少一个子集中的共同对应图像区域,其中所述多个图像的子集由图像数据的子集形成,并且其中所述图像数据的子集由所述多个相机的子集捕捉;及图像的子集中的每个图像中包含沿源自图像的子集中的至少一个图像中所述共同对应图像区域中一像素的极线位于预定最大视差移位距离内的至少一个像素的任何附加图像区域,其中极线由捕捉图像的子集中的至少一个图像的相机的中心与预定视点的相对位置定义。
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