[发明专利]用于检测有缺陷的相机阵列、光学器件阵列和传感器的系统及方法

说明书

描述了用于检测有缺陷的相机阵列、光学器件阵列和/或传感器的系统及方法。一种实施例包括利用相机阵列捕捉图像数据；把捕捉到的数据分成多个对应的图像区域；通过评估所捕捉的图像中的图像区域，识别任意相机中局部缺陷的存在；以及，当特定图像区域集合中局部缺陷的个数超过预定的阈值时，利用图像处理系统检测到有缺陷的相机阵列，其中特定图像区域集合由以下构成：所捕捉的图像的至少一个子集中的共同对应图像区域；以及给定图像中包含沿源自所述给定图像中所述共同对应图像区域中一像素的极线位于预定最大视差移位距离内的至少一个像素的任何附加区域。

技术领域

本发明一般而言涉及用于筛查相机的缺陷的系统及方法并且，更 具体而言，涉及用于筛查相机阵列或者在相机阵列构造中使用的光学 器件阵列的缺陷的系统及方法。

背景技术

响应于对基于相机暗箱的传统数码相机放置的约束，已经推荐了 可以被称为阵列相机的一类新的相机。阵列相机的特征在于它们包括 具有多个像素阵列的成像器阵列，其中每个像素阵列要定义焦平面， 并且每个焦平面具有单独的透镜堆叠(lens stack)。通常，每个焦 平面包括也构成多列像素的多行像素，并且每个焦平面包含在成像器 中不包含来自另一焦平面的像素的区域中。图像通常在每个焦平面上 由其各自的透镜堆叠形成。在许多情况下，阵列相机利用包括多个焦 平面的成像器阵列和透镜堆叠的光学器件阵列构造。

发明内容

根据本发明实施例的系统及方法检测在阵列相机模块构造中使用 的有缺陷的相机阵列，和/或光学器件阵列和/或传感器。本发明方法 的一种实施例包括：利用多个相机捕捉已知目标的图像数据，其中图 像数据构成多个图像；利用图像处理系统把这多个图像当中每一个分 成多个对应的图像区域；利用图像处理系统通过根据至少一个预定的 局部缺陷标准评估这多个图像中的图像区域来识别多个相机当中至少 一个中至少一个局部缺陷的存在；当特定图像区域集合中的局部缺陷 的个数超过预定的阈值时，利用图像处理系统检测到有缺陷的相机阵 列。此外，特定图像区域集合由以下构成：所述多个图像的至少一个 子集中的共同对应的图像区域；以及给定图像中包含沿源自所述给定 图像中所述共同对应图像区域中一像素的极线(epipolar line)位于 预定最大视差移位距离内的至少一个像素的任何附加图像区域，其中 极线由捕捉所述给定图像的相机的中心与预定视点的相对位置定义。

在本发明方法的另一种实施例中，利用图像处理系统通过根据至 少一个预定的局部缺陷标准评估多个图像中的图像区域来识别多个相 机当中至少一个中至少一个局部缺陷的存在包括识别图像区域中满足 至少一个预定标准的多个有缺陷像素。

在本发明方法的另一种实施例中，预定标准是图像区域中的所述 多个有缺陷像素超过预定的有缺陷像素个数。

在本发明方法的还有另一种实施例中，预定标准是所述多个有缺 陷像素包括超过预定尺寸的有缺陷像素的群集。

在本发明方法的还有另一种实施例中，有缺陷的像素包括热像素、 亮像素和暗像素。

在本发明方法的还有另一种实施例中，利用图像处理系统通过根 据至少一个预定的局部缺陷标准评估多个图像中的图像区域来识别多 个相机当中至少一个中至少一个局部缺陷的存在包括：测量图像区域 内的调制传递函数(MTF)；及确定图像区域的MTF未能满足预定 标准。

在本发明方法的还有另一种实施例中，预定标准是处于预定空间 频率的轴上MTF超过第一预定阈值，处于预定空间频率的离轴切线 MTF超过第二预定阈值，以及处于预定空间频率的离轴径向MTF 超过第三预定阈值。