[发明专利]超声波检查装置有效

专利信息
申请号: 201380037373.X 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN104487002A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 山本拓明 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 熊传芳;苏卉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种超声波检查装置,能够降低由发送超声波束的展宽带来的影响,提高SN比,提高分辨率,并能够以不依赖于发送束的宽度的高的分辨率得到具有最佳的空间分辨率的清晰的超声波图像。具备数据处理部,使探头多次进行超声波束的发送,获取与各个超声波束的发送对应的第一元件数据,根据多个第一元件数据生成与第一元件数据中的任一个对应的第二元件数据,数据处理部根据求出第二元件数据的位置的深度来选择用于生成第二元件数据的两个以上的第一元件数据,从而解决上述课题。
搜索关键词: 超声波 检查 装置
【主权项】:
一种超声波检查装置,使用超声波束对检查对象物进行检查,所述超声波检查装置的特征在于,具备:排列有多个元件的探头,该多个元件发送所述超声波束且接收由所述检查对象物反射的超声波回波而输出与接收到的超声波回波对应的模拟元件信号;发送部,使所述探头多次进行使用多个所述元件以形成预定的发送焦点的方式发送所述超声波束;接收部,与各所述超声波束的发送对应而接收多个所述元件所输出的模拟元件信号并实施预定的处理;AD转换部,对所述接收部处理后的模拟元件信号进行A/D转换而形成作为数字元件信号的第一元件数据;及数据处理部,根据多个所述第一元件数据生成与所述第一元件数据中的任一个对应的第二元件数据,所述数据处理部根据求出所述第二元件数据的位置的深度,变更用于生成所述第二元件数据的两个以上的所述第一元件数据的获取条件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380037373.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top