[发明专利]超声波检查装置有效
申请号: | 201380037373.X | 申请日: | 2013-07-11 |
公开(公告)号: | CN104487002A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 山本拓明 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 熊传芳;苏卉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波 检查 装置 | ||
1.一种超声波检查装置,使用超声波束对检查对象物进行检查,所述超声波检查装置的特征在于,具备:
排列有多个元件的探头,该多个元件发送所述超声波束且接收由所述检查对象物反射的超声波回波而输出与接收到的超声波回波对应的模拟元件信号;
发送部,使所述探头多次进行使用多个所述元件以形成预定的发送焦点的方式发送所述超声波束;
接收部,与各所述超声波束的发送对应而接收多个所述元件所输出的模拟元件信号并实施预定的处理;
AD转换部,对所述接收部处理后的模拟元件信号进行A/D转换而形成作为数字元件信号的第一元件数据;及
数据处理部,根据多个所述第一元件数据生成与所述第一元件数据中的任一个对应的第二元件数据,
所述数据处理部根据求出所述第二元件数据的位置的深度,变更用于生成所述第二元件数据的两个以上的所述第一元件数据的获取条件。
2.根据权利要求1所述的超声波检查装置,其中,
所述发送部进行处于中心的元件的变更和超声波束的发送方向的变更的至少一方而使所述探头进行所述多次的超声波束的发送。
3.根据权利要求2所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部使用由处于中心的元件互不相同的所述超声波束的发送而得到的多个所述第一元件数据和由发送方向互不相同的所述超声波束的发送而得到的多个所述第一元件数据的至少一方,生成所述第二元件数据。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部根据由发送区域重合的所述超声波束的发送而得到的多个所述第一元件数据,生成所述第二元件数据。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部根据所述元件接收到超声波回波的接收时间和所述元件的位置使多个所述第一元件数据叠合,生成所述第二元件数据。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部具有:
延迟时间计算部,算出两个以上的所述第一元件数据的延迟时间;及
叠合处理部,基于算出的延迟时间和接收到的所述探头的元件的位置使所述两个以上的第一元件数据叠合而生成所述第二元件数据。
7.根据权利要求6所述的超声波检查装置,其中,
所述延迟时间计算部基于事先获取的与所述探头、所述检查对象物的声速、所述超声波束的焦点位置、由所述发送部产生的所述探头的发送开口和由所述接收部产生的所述探头的接收开口相关的至少一个信息,算出所述两个以上的第一元件数据的延迟时间,
所述叠合处理部基于预先设定的所述两个以上的第一元件数据中的叠合的第一元件数据的数目和叠合处理方法使所述两个以上的第一元件数据叠合,生成至少一个第二元件数据。
8.根据权利要求6或7所述的超声波检查装置,其中,
在由所述叠合处理部使所述两个以上的第一元件数据叠合时,所述数据处理部仅根据重叠的部分的元件数据,生成所述第二元件数据。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部在对两个以上的所述第一元件数据中的各第一元件数据乘以加权系数后使该两个以上的所述第一元件数据叠合。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部根据求出所述第二元件数据的位置的深度,变更所选择的所述第一元件数据的数目。
11.根据权利要求1~10中任一项所述的超声波检查装置,其中,
所述数据处理部基于在每个所述元件数据的接收时间上至少两个以上不同的时间轴上的点,适应性地使所述两个以上的第一元件数据叠合。
12.根据权利要求11所述的超声波检查装置,其中,
所述不同的时间轴上的点是基于由所述发送部产生的所述探头的每个发送开口的点。
13.根据权利要求11或12所述的超声波检查装置,其中,
所述不同的时间轴上的点是在以至少两个以上的发送开口发送所述两个以上的第一元件数据中的每个第一元件数据的情况下基于每个该发送开口的点。
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