[实用新型]集成电路自动测试装置

摘要

一种集成电路自动测试装置，该装置包括位于轨道部件的一部分上、对集成电路芯片进行测试的测试区，测试区设置有用于固定金手指的金手指固定装置和用于阻挡集成电路芯片在重力作用下向下游移动的阻挡装置，其中阻挡装置包括：设置在测试区的轨道部件上的阻挡底座；构造成能够相对于阻挡底座移动并且能够被操作而抵靠集成电路芯片的下侧边缘从而阻挡集成电路芯片的阻挡针，阻挡针提供致动力的阻挡气缸；以及可枢转地安装在阻挡底座上的阻挡拨块，阻挡拨块的一端抵靠阻挡气缸并由阻挡气缸致动，阻挡拨块的另一端与阻挡针配合以使阻挡针移动。采用根据本实用新型的集成电路自动测试装置可以精确控制阻挡针的位置，避免出现芯片卡料或错位的现象。

主权项

一种集成电路自动测试装置，所述集成电路自动测试装置包括位于轨道部件的一部分上、对集成电路芯片进行测试的测试区，所述测试区设置有用于固定金手指的金手指固定装置和用于阻挡集成电路芯片在重力作用下向下游移动的阻挡装置，其特征在于，所述阻挡装置包括：阻挡底座，所述阻挡底座设置在所述测试区的轨道部件上；阻挡针，所述阻挡针构造成能够相对所述阻挡底座移动并且能够被操作而抵靠集成电路芯片的下侧边缘从而阻挡集成电路芯片向下游移动；阻挡气缸，所述阻挡气缸为阻挡针提供致动力；以及阻挡拨块，所述阻挡拨块可枢转地安装在所述阻挡底座上，所述阻挡拨块的一端抵靠所述阻挡气缸并由所述阻挡气缸致动，所述阻挡拨块的另一端与所述阻挡针配合以使所述阻挡针移动。