[实用新型]颗粒验测装置及颗粒验测系统有效
| 申请号： | 201320475981.6 | 申请日： | 2013-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN203479667U | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 王祺;潘军花 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;B01D46/00 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 实用新型公开了一种颗粒验测装置及一种颗粒验测系统，颗粒验测装置包括底座、采样管、采样头和过滤器，其中，采样管的底端与底座固定连接，采样管的顶端与采样头固定连接，过滤器通过密封环与采样头的上端密封连接，从而在工艺需求进行颗粒验测时，能够方便快捷的确定橡胶管路的状态，且该过滤器和密封环的成本较低，进而在保证了产品良率的同时，又降低了器件的生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种颗粒验测装置，包括底座、采样管和采样头，所述采样管的底端与所述底座固定连接，所述采样头与采样管的顶端固定连接，其特征在于，所述颗粒验测装置还包括：过滤器和密封环；所述过滤器通过所述密封环与所述采样头顶端密封连接。
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