[实用新型]一种微结构力学性能片外弯曲测试装置有效

专利信息
申请号: 201320339805.X 申请日: 2013-06-14
公开(公告)号: CN203287264U 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 王晓晶;刘彬;陶俊勇;张云安;陈循;易晓山 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/38
代理公司: 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 代理人: 刘熙
地址: 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样安装调整部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分。本实用新型具有调整方便,结构简单,力、位移信号采集准确,能够对微结构进行弯曲强度和疲劳特性测试,经测量误差、分辨率、整体接合刚度、抗扰动性能等方面的可用性分析和实验测试,该装置能够很好地满足科研要求。
搜索关键词: 一种 微结构 力学性能 弯曲 测试 装置
【主权项】:
一种微结构力学性能片外弯曲测试装置,其特征是包括三维移动平台、抗振固定块、隔振底座、试样安装调整部分、驱动部分、载荷检测部分、位移检测部分和放大观测部分;所述三维移动平台设在隔振底座的一侧,所述抗振固定块设在隔振底座的另一侧,所述试样安装调整部分设在抗振固定块上,所述驱动部分设在三维移动平台上;所述载荷检测部分与驱动部分连接并与与试样安装调整部分对应,载荷检测部分包括顶针、微力传感器及抗振固定块,微力传感器固定在抗振固定块上,顶针固定在致动器上与微力传感器对应;所述位移检测部分设在三维移动平台和抗振固定块之间,所述放大观测部分设在隔振底座上对准试样安装调整部分;所述试样安装调整部分由中央设通孔的载物台和压片组成,载物台固定在力传感器上,力传感器固定在抗振固定块上,压片一侧由固定在载物台上,另一侧用于压紧试样。
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