[实用新型]逆变器老化测试系统有效
| 申请号： | 201320180285.2 | 申请日： | 2013-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN203191481U | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 张普光;王一鸣;许颇 | 申请（专利权）人： | 宁波锦浪新能源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人： | 董梅 |
| 地址： | 315700 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，包含嵌入式子系统和测试平台，所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片、与所述的嵌入式芯片连接的IO口接口电路和AD口接口电路，通过IO输出与AD输入引出口接入一个带有滤波电路和写有固件程序的测试平台，用于测试各路IO口及接口电路和各路AD口及接口电路是否正常，每一路判断结束后，通过对所述的嵌入式芯片外接LED灯或者串口通讯进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。本实用新型可以非常方便有效地测试出大批量生产的嵌入式子系统中芯片本身的对外输入和输出端口、焊接、外围电路是否正常，提高生产效率、保证测试质量。 | ||
| 搜索关键词： | 逆变器 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，其特征在于：包含嵌入式子系统（100）和测试平台（200），所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片（30）、与所述的嵌入式芯片（30）连接的IO口接口电路(40)和AD口接口电路(50)，通过IO输出与AD输入引出口(60)接入一个带有滤波电路(70)的测试平台(200)，所述的嵌入式芯片（30）外接LED灯或者串口通讯，进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波锦浪新能源科技有限公司，未经宁波锦浪新能源科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320180285.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
