[实用新型]逆变器老化测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种逆变器老化测试系统，尤其涉及对包含嵌入式芯片及外围电路子系统进行功能测试的系统。

背景技术

嵌入式系统越来越多的应用于工业和生活的各个领域，很多稍微复杂一点的嵌入式系统都是由几部分组成。如太阳能并网逆变器或风力并网逆变器就是一个保护嵌入式芯片的嵌入式系统，其一般会由嵌入式核心控制子系统电路、外部电压电流检测电路、逆变电路和滤波电路单元组成。嵌入式核心控制子系统完成整个系统的控制功能，接收外部输入的各种模拟和数字信号并经过计算发出正确的控制输出信号。在大规模的生产过程中，嵌入式系统的每个单元必须经过可靠的功能测试才能最终装配在一起，并进行最终测试。嵌入式核心控制子系统作为整个产品系统的大脑，更应该进行全面测试，保证其本身以及外部电路的可靠性。一个有功能问题的嵌入式核心控制单元如果直接装配到整个产品系统并最终测试，非常有可能引起整个系统的崩溃和其它单元永久的损伤。

如何对嵌入式核心控制子系统电路进行有效测试，并在大批量生产过程中保证高效性。目前常规应用测试方法有ICT（在线电路检测）、AOI（自动光学检验）等，但是这些都是对外围电路进行物理故障检测，并不能直接检测嵌入式芯片本身和整个单元的功能。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种逆变器老化测试系统，包含对嵌入式芯片及外围电路的子系统有效测试的自测试系统，用于实现在产品大批量生产中嵌入式核心子系统的功能测试。

本实用新型目的通过下述技术方案实现：一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，包含嵌入式子系统和测试平台，所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片、与所述的嵌入式芯片连接的IO口接口电路和AD口接口电路，通过IO输出与AD输入引出口接入一个带有滤波电路和嵌入式固件程序的测试平台，用于测试各路IO口及接口电路和各路AD口及接口电路是否正常，每一路判断结束后，通过对所述的嵌入式芯片外接LED灯或者串口通讯进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。

通过对包含嵌入式芯片的核心单元外部接入一个测试平台，编写一个特定的嵌入式固件程序，可以实现嵌入式子系统本身自测试，测试内容包括嵌入式芯片IO端口焊接是否正确、IO口输出电路是否正确、输出接口端子是否正确、AD口采样电路是否正确、嵌入式芯片AD端口焊接是否正确等。

在上述方案基础上，所述的嵌入式子系统与外部接口至少有一路IO口输出，所有对外IO口都设定为输出；并且至少有一路AD口输入。

本实用新型可以非常方便有效地测试出大批量生产的嵌入式子系统中芯片本身的对外输入和输出端口是否正常、焊接是否正常、外围电路是否正常。可以有效地提高生产效率，并保证生产测试质量。

以下结合附图及实施例对本实用新型进一步描述。

附图说明

图1为本实用新型嵌入式系统测试原理图；

图2为图1中70部分的嵌入式系统测试平台中常用滤波电路一71；

图3为图1中70部分的嵌入式系统测试平台中常用滤波电路二72；

图4为滤波电路的数字输入、模拟输出的波形图；

图中标号说明：

100——嵌入式子系统；

30——嵌入式芯片；40——IO口接口电路；

50——AD口接口电路；

60——IO输出与AD输入引出口；

200——测试平台；

70——滤波电路；71——滤波电路一；72——滤波电路二。

具体实施方式

如图1所示,本实用新型一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，包含嵌入式子系统100和测试平台200，所述的嵌入式子系统100包括嵌入式芯片30、与所述的嵌入式芯片连接的IO口接口电路40和AD口接口电路50，通过IO输出与AD输入引出口60接入一个带有滤波电路70和嵌入式固件程序的测试平台200，用于测试各路IO口及接口电路和各路AD口及接口电路是否正常，每一路判断结束后，通过对所述的嵌入式芯片30外接LED灯或者串口通讯进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。

通过对包含嵌入式芯片的核心单元外部接入一个测试平台，编写一个特定的嵌入式固件程序，可以实现嵌入式子系统本身自测试，测试内容包括嵌入式芯片IO端口焊接是否正确、IO口输出电路是否正确、输出接口端子是否正确、AD口采样电路是否正确、嵌入式芯片AD端口焊接是否正确等。

在上述方案基础上，所述的嵌入式子系统与100外部接口至少有一路IO口输出，所有对外IO口都设定为输出；并且至少有一路AD口输入。