[实用新型]逆变器老化测试系统有效
| 申请号： | 201320180285.2 | 申请日： | 2013-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN203191481U | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 张普光;王一鸣;许颇 | 申请（专利权）人： | 宁波锦浪新能源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人： | 董梅 |
| 地址： | 315700 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 逆变器 老化 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种逆变器老化测试系统，用于对包含嵌入式芯片的子系统进行功能测试，其特征在于：包含嵌入式子系统（100）和测试平台（200），所述的嵌入式子系统包括嵌入式芯片（30）、与所述的嵌入式芯片（30）连接的IO口接口电路(40)和AD口接口电路(50)，通过IO输出与AD输入引出口(60)接入一个带有滤波电路(70)的测试平台(200)，所述的嵌入式芯片（30）外接LED灯或者串口通讯，进行逐条显示每一路电路是否正常状态并打印记录。
2.根据权利要求1所述的逆变器老化测试系统，其特征在于：所述的嵌入式子系统与外部接口至少有一路IO口输出，所有对外IO口都设定为输出；并且至少有一路AD口输入。
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