[发明专利]星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201310695201.3 申请日: 2013-12-17
公开(公告)号: CN103792178A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 史亮;全小平;李存惠;王鹢 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 孟阿妮
地址: 730013 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头及其使用方法,该测试探头包括支架,支架上设有两个以上的光电传感器,每个光电传感器上方对应设置有透明光学材料,透明光学材料上设有盖板,盖板上设有两个以上的通孔,每个通孔下方对应设有透明光学材料,盖板固定连接支架。该使用方法包括:测试探头搭载于航天器外部,在轨运行期间,在相同的光照条件下,测量每个光电传感器的电流;将测试的电流回传至地面,并将试验样品的电流与对比样品的电流进行对比,得到对比电流变化情况,即得到作为试验样品的透明光学材料在空间环境中透过率变化的情况。本发明结构简单、可靠,能够对在轨暴露的星用材料光学透过率变化进行在线测试。
搜索关键词: 用材 暴露 试验 透过 变化 测试 探头 及其 使用方法
【主权项】:
一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头,其特征在于,包括支架,所述支架上设有两个以上的光电传感器,每个所述光电传感器上方对应设置有透明光学材料,所述透明光学材料上设有盖板,所述盖板上设有两个以上的通孔,每个所述通孔下方对应设有透明光学材料,所述盖板固定连接所述支架;其中一个透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的对比样品,其他透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的试验样品。
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