[发明专利]星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头及其使用方法

说明书

技术领域

本发明属于航天器材料空间环境效应测试领域，具体涉及一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头及其使用方法。

背景技术

星用材料在轨暴露试验对验证卫星外部材料性能，验证地面模拟试验数据和校准地面模拟试验方法等方面具有不可替代的作用，对航天技术的发展具有重要意义。国内外已经开展了大量材料在轨暴露试验，这些试验大致可分为两类，一类是被动暴露试验，即在空间对材料样品进行暴露，回收后在地面进行性能表征测试等，以获取材料性能变化的数据；一类是主动暴露试验，即在空间对材料样品进行暴露的同时，通过在线测试技术对样品的性能进行原位测试，以获取材料性能随暴露时间变化的趋势。

星用材料在轨暴露过程中，有些材料的光学透过率变化并非线性变化，此外，在回收过程中暴露试验样品容易受到其它因素影响，造成光学透过率测试结果产生较大偏差，因此无法回收后再进行测试。在地面针对材料光学透过率进行直接表征测试一般都需要使用专门设备，如分光光度计等，此类设备体积和重量大、技术含量和精密程度高，无法满足在轨测试的要求。

发明内容

在下文中给出关于本发明的简要概述，以便提供关于本发明的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本发明的穷举性概述。它并不是意图确定本发明的关键或重要部分，也不是意图限定本发明的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

本发明实施例的目的是针对上述现有技术的缺陷，提供一种结构简单、可靠，能够对在轨暴露的星用材料光学透过率变化进行在线测试的探头。

本发明还提供星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头的使用方法。

为了实现上述目的，本发明采取的技术方案是：

一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，包括支架，所述支架上设有两个以上的光电传感器，每个所述光电传感器上方对应设置有透明光学材料，所述透明光学材料上设有盖板，所述盖板上设有两个以上的通孔，每个所述通孔下方对应设有透明光学材料，所述盖板固定连接所述支架；其中一个透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的对比样品，其他透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的试验样品。

本发明提供一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头的使用方法，包括以下步骤：

测试探头搭载于航天器外部，在轨运行期间，在相同的光照条件下，测量每个光电传感器的电流；

将每个光电传感器的电流回传至地面，并将放置作为试验样品的透明光学材料的光电传感器的电流与其中一个放置作为对比样品的透明光学材料的光电传感器的电流进行对比，得到对比电流变化情况，即得到作为试验样品的透明光学材料在空间环境中透过率变化的情况。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、结构简单、可靠、易实现；

2、可以对在轨暴露的星用材料光学透过率变化进行在线测试；

3、可随样品数量延长或缩短探头长度，实现多个样品的同时试验。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头的分解示意图。

附图标记：

1-支架，10-第一凹槽，11-凸台；

2-光电传感器，21-第一光电传感器，22-第二光电传感器；

3-透明光学材料，31-第一透明光学材料，32-第二透明光学材料；

4-盖板；

5-通孔，51-第一通孔，52-第二通孔；

6-开孔。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。在本发明的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。应当注意，为了清楚的目的，附图和说明中省略了与本发明无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。