[发明专利]星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头及其使用方法

权利要求书

1.一种星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，包括支架，所述支架上设有两个以上的光电传感器，每个所述光电传感器上方对应设置有透明光学材料，所述透明光学材料上设有盖板，所述盖板上设有两个以上的通孔，每个所述通孔下方对应设有透明光学材料，所述盖板固定连接所述支架；其中一个透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的对比样品，其他透明光学材料作为星用材料在轨暴露试验的试验样品。

2.根据权利要求1所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述支架上设有两个以上的第一凹槽，每个所述光电传感器相应放置在所述第一凹槽中。

3.根据权利要求2所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述第一凹槽的内部设有凸台，所述光电传感器放置在所述凸台上。

4.根据权利要求1所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，至少一个所述透明光学材料为JGS1石英玻璃。

5.根据权利要求1-4任一项所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述盖板上设有第二凹槽，所述透明光学材料设置在相应的所述第二凹槽中。

6.根据权利要求1所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述支架上并排设有两个第一凹槽，一个第一凹槽内设有第一光电传感器，另一个第一凹槽内设有第二光电传感，所述第一光电传感器上设有第一透明光学材料，所述第二光电传感器上设有第二透明光学材料，所述第一、二透明光学材料上设有盖板，所述第一透明光学材料上对应设有第一通孔，所述第二透明光学材料上对应设有第二通孔。

7.根据权利要求6所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述第一通孔的形状与其对应的第一光电传感器的外形相同，所述第二通孔的形状与其对应的第二光电传感器的外形相同。

8.根据权利要求6所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述第一通孔和第二通孔均为方形通孔。

9.根据权利要求6或7所述的星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头，其特征在于，所述盖板与所述支架的四个角分别设有开孔，所述开孔穿设有螺栓。

10.根据权利要求1-9任一项所述星用材料在轨暴露试验透过率变化测试探头的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

测试探头搭载于航天器外部，在轨运行期间，在相同的光照条件下，测量每个光电传感器的电流；

将每个光电传感器的电流回传至地面，并将放置作为试验样品的透明光学材料的光电传感器的电流与其中一个放置作为对比样品的透明光学材料的光电传感器的电流进行对比，得到对比电流变化情况，即得到作为试验样品的透明光学材料在空间环境中透过率变化的情况。