[发明专利]一种双面布线厚膜电路测试装置有效
| 申请号： | 201310589122.4 | 申请日： | 2013-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN103605067A | 公开（公告）日： | 2014-02-26 |
| 发明（设计）人： | 刘尊建;张国栋;金家存 | 申请（专利权）人： | 华东光电集成器件研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人： | 杨晋弘 |
| 地址： | 233042 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：下座（1），下座上设有一组下连通片（19），下连通片上设有下弹簧针（18）、引出线（20）；上座（5），上座上设有一组上连通片（8），上连通片上设有上弹簧针（9）、连通弹簧针（7），连通弹簧针与下连通片连通；上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路（4），上弹簧针（9）和下弹簧针（18）分别和厚膜电路两面的焊盘（22）连通。由于采用了上述方案，使得本发明结构简单，可对厚膜电路正反两面进行全面检测，具有接触可靠，检测结果准确，操作简单方便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双面 布线 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：下座（1），下座上设有一组下连通片（19），下连通片上设有下弹簧针（18）、引出线（20）；上座（5），上座上设有一组上连通片（8），上连通片上设有上弹簧针（9）、连通弹簧针（7），连通弹簧针与下连通片连通；上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路（4），上弹簧针（9）和下弹簧针（18）分别和厚膜电路两面的焊盘（22）连通。
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