[发明专利]一种双面布线厚膜电路测试装置

说明书

技术领域： 

本发明涉及一种电路测试装置，特别涉及一种双面布线厚膜电路测试装置。

背景技术： 

为了增加集成度，或者为了断开电阻环路以方便调阻，厚膜电路经常采用双面布局布线形式，为及早发现问题而减小损失，在最终安装外引线之前需要对电路进行中间测试，目前测试双面布局布线厚膜电路的方法有三种，一是仅对组装元器件较多的那一面电路进行测试，这就造成了对整个电路的中间检测不够全面，二是对电路两面分别进行检测，这不仅增加了测试操作步骤，而且未能对两面电路进行联测，三是预插装外引线但不焊接，该方式由于外引线与电路接触不可靠，会造成测试结果不准确，另外也会造成对外引线的浪费。

发明内容： 

本发明要解决的技术问题是：提供一种双面布线厚膜电路测试装置，可对厚膜电路正反两面的电路进行全面检测，具有接触可靠，检测结果准确，操作简单方便等优点。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案： 

一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：

下座，下座上设有一组下连通片，下连通片上设有下弹簧针、引出线；

上座，上座上设有一组上连通片，上连通片上设有上弹簧针、连通弹簧针，连通弹簧针与下连通片连通；

上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路，上弹簧针与下弹簧针分别和厚膜电路两面的焊盘连通。

所述的下座上设有凹槽，下连通片连接在凹槽的槽底上，槽底上对应于下连通片的位置设有引线孔，引出线从引线孔穿出，凹槽的四角设有定位台，厚膜电路和定位台配合，凹槽的上口还设有凹台，上座和凹台配合。 

所述的上座上设有凹槽，上连通片与凹槽的槽底连接，凹槽的槽底还设有一组压板，压板与厚膜电路配合。 

所述的上座的侧面对称设有锁紧装置，它包括：支腿、锁杆、扭簧，支腿与上座连接，支腿与锁杆通过销轴连接，扭簧连接在销轴上，其一端与上座配合，另一端和锁杆的上端配合，下座上设有钩槽，锁杆下端的锁钩与钩槽配合连接。 

所述的下座和上座均采用绝缘材料。 

由于采用了上述技术方案，本发明可对厚膜电路的正反两面电路进行全面检测，且接触可靠，检测结果准确，操作简单方便。 

为了更加详细的说明本发明，下列附图提供了一个最佳实施例。 

附图说明： 

图1是本发明的示意图；

图2是图1的A部放大图。

具体实施方式： 

如图1、图2所示，1、一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：

下座1、上座5，上座与下座配合，上座和下座均采用绝缘材料，它们之间设有厚膜电路4，下座上设有一组下连通片19，下连通片上设有下弹簧针18、引出线20，上座上设有一组上连通片8，上连通片上设有上弹簧针9、连通弹簧针7，上弹簧针9和下弹簧针18分别和厚膜电路两面的焊盘22连通，连通弹簧针与下连通片连通。

所述的下座1上设有凹槽，下连通片19连接在凹槽的槽底上，槽底上对应于下连通片的位置设有引线孔21，引出线20从引线孔穿出，凹槽的四角设有定位台3，厚膜电路和定位台配合，凹槽的上口还设有凹台2，上座和凹台配合。 

所述的上座5上设有凹槽，上连通片8与凹槽的槽底连接，凹槽的槽底还设有一组压板6，压板与厚膜电路4配合。 

所述的上座5上还设有锁紧装置，它包括：支腿10、锁杆12、扭簧11，支腿与上座连接，支腿与锁杆通过销轴连接，扭簧连接在销轴上，其一端与上座配合，另一端和锁杆的上端配合，下座上设有钩槽13，锁杆下端的锁钩14与钩槽13配合连接，锁杆上还设有限位柱15，锁钩上设有斜面，限位柱可限制锁杆下端的位置，使锁钩上的斜面始终与下座边缘配合，方便锁杆下端的开启。由图1所示，测试时，将上座5装入下座的凹台2里，凹台2的上口和上座5的周边分别设有倒角16、17可方便上、下座的配合连接，下座的定位台3和上座的压板6将厚膜电路固定，上弹簧针9、下弹簧针18紧压在厚膜电路两面的焊盘上，连通弹簧针7紧压在下连通片19上连通厚膜电路两面的焊盘，通过由引线孔21穿出的引出线20对厚膜电路进行测试，上座和下座配合连接时，锁钩的斜面沿下座的边缘下滑撑开锁杆下端，锁钩14滑进沟槽13将上座和下座锁紧，测试完毕后，按住锁杆上端压缩扭簧11，锁杆下端以销轴为转动中心外移，锁钩与沟槽分离，上座和下座打开。 

由于采用了上述技术方案，使得本发明结构简单，可对厚膜电路正反两面进行全面检测，具有接触可靠，检测结果准确，操作简单方便等优点。