[发明专利]一种双面布线厚膜电路测试装置

权利要求书

1.一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于它包括：下座（1），下座上设有一组下连通片（19），下连通片上设有下弹簧针（18）、引出线（20）；上座（5），上座上设有一组上连通片（8），上连通片上设有上弹簧针（9）、连通弹簧针（7），连通弹簧针与下连通片连通；上座与下座配合，它们之间设有厚膜电路（4），上弹簧针（9）和下弹簧针（18）分别和厚膜电路两面的焊盘（22）连通。

2.根据权利要求1所述的一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于所述的下座（1）上设有凹槽，下连通片（19）连接在凹槽的槽底上，槽底上对应于下连通片的位置设有引线孔（21），引出线（20）从引线孔穿出，凹槽的四角设有定位台（3），厚膜电路和定位台配合，凹槽的上口还设有凹台（2），上座和凹台配合。

3.根据权利要求1所述的一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于：上座（5）上设有凹槽，上连通片（8）与凹槽的槽底连接，凹槽的槽底还设有一组压板（6），压板与厚膜电路（4）配合。

4.根据权利要求1或3所述的一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于：上座（5）的侧面对称设有锁紧装置，它包括：支腿（10）、锁杆（12）、扭簧（11），支腿与上座连接，支腿与锁杆通过销轴连接，扭簧连接在销轴上，其一端与上座配合，另一端和锁杆的上端配合，下座上设有钩槽（13），锁杆下端的锁钩（14）与钩槽（13）配合连接。

5.根据权利要求1所述的一种双面布线厚膜电路测试装置，其特征在于所述的下座（1）和上座（5）均采用绝缘材料。