[发明专利]一种采用低温退火制备非晶NiW合金薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201310563319.0 申请日: 2013-11-11
公开(公告)号: CN103628004A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 黄平;王飞;陈自强;徐可为 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: C22C45/04 分类号: C22C45/04;C23C14/35;C23C14/58;C22F1/10
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 蔡和平
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种采用低温退火制备非晶NiW合金薄膜的方法,其是将磁控溅射沉积态的纳米晶NiW合金薄膜置于真空退火炉中低温退火制备出近乎完全非晶化的NiW合金薄膜。该方法简单、易行,避免了传统金属非晶材料制备方法所需的极大的淬火速度。该方法采用可靠的真空退火和双靶磁控溅射技术,可重复性高,可操作性强,成本低,易于在工业上实现和推广。
搜索关键词: 一种 采用 低温 退火 制备 niw 合金 薄膜 方法
【主权项】:
一种采用低温退火制备非晶NiW合金薄膜的方法,其特征在于,将纳米晶NiW合金薄膜置于真空退火炉中,通过低温退火制备非晶NiW合金薄膜。
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