[发明专利]光栅基板短路检测方法有效
申请号: | 201310495913.0 | 申请日: | 2013-10-21 |
公开(公告)号: | CN103487960A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 郭会斌;王守坤 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/02 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及显示技术领域,公开了一种光栅基板短路检测方法,包括步骤:对光栅基板上的每条第一电极施加电压,对于每条第二电极不加电,采用探针沿第二电极所在的直线移动,检测所述第二电极的电压;判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值,若大于,则确定与第一电极短路。本发明通过电学探针检测到哪两条第一电极和第二电极短路,实现了对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测并定位,并及时反馈出短路不良的具体位置,从而提高产线良率和效益。 | ||
搜索关键词: | 光栅 短路 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种光栅基板短路检测方法,其特征在于,包括步骤:对光栅基板上的每条第一电极施加电压,对于每条第二电极不加电,采用探针沿第二电极所在的直线移动,检测所述第二电极的电压;判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值,若大于,则确定与第一电极短路。
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