[发明专利]光栅基板短路检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种光栅基板短路检测方法。

背景技术

目前应用于裸眼3D的光栅设计中，光栅条纹相对于显示面板的一行或一列像素倾斜设置，如倾斜80.54°角度。一种液晶光栅如图1所示，包括第一光栅基板1、第二光栅基板2及两者之间的液晶3。第一光栅基板1上形成有若干交替设置的第一电极4和第二电极5，且第一电极4和第二电极5均为条状，排布平面图如图2所示，第一电极4和第二电极5在第一光栅基板1上的分布情况，两者都是倾斜设置，倾斜角度为α。所有的第一电极4连接在一起（通过过孔7与第一电极4对应的信号线连接），所有的第二电极5连接在一起（通过过孔8与第二电极5对应的信号线连接）。第二光栅基板3上形成有第三电极6（板状电极）。上述第一电极4、第二电极5和第三电极6通常都采用ITO（Indium Tin Oxide）材料制作。工作时（对于常白模式），对第一电极4和第三电极6施加相同的第一电压，对第二电极5施加与第一电压不同的第二电压，使第二电极5对应区域的液晶3偏转到该区域不透光，从而形成挡光条纹。同理，对第二电极5和第三电极6施加相同的第一电压，对第一电极4施加与第一电压不同的第二电压，使第一电极4对应区域的液晶3偏转到该区域不透光，从而形成挡光条纹。

在第一光栅基板1上，由于某一条第一电极4和其相邻的第二电极5水平间距相对于第一电极4或第二电极5的宽度非常小，在制作过程中很容易发生短路，若不及时检测出短路情况，会导致产品不良，产线良率和效率低。现有的阵列基板检测设备中带动探针移动的导轨包括与栅线平行的横向导轨和与数据线平行的纵向导轨，横向导轨和纵向导轨相互垂直。可将探针安装在纵向导轨上，纵向导轨沿横向导轨移动以定位一条数据线，探针在纵向轨道上移动，以检测每条数据线上的电压；同理，可将探针安装在横向导轨上，横向导轨沿纵向导轨移动以定位一条栅线，探针在横向轨道上移动，以检测每条栅线上的电压。由于光栅基板中第一电极4和第二电极5倾斜设置，横向导轨和纵向导轨均无法使探针沿第一电极4和第二电极5倾斜移动，因此无法对两者短路情况进行检测。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何对电极倾斜设置的光栅基板进行短路检测。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种光栅基板短路检测方法，包括步骤：

对光栅基板上的每条第一电极施加电压，对于每条第二电极不加电，采用探针沿第二电极所在的直线移动，检测所述第二电极的电压；

判断每条第二电极上的电压最大值是否大于预定阈值，若大于，则确定与第一电极短路。

其中，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括：

设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向；

驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位每一条第二电极，驱动探针在所述纵向导轨上移动，以检测每条第二电极的电压。

其中，对于每条第二电极，采用探针沿第二电极所在的直线移动的具体方式包括：

驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动探针在纵向导轨上移动，使得探针的轨迹为所述第二电极所在的直线。

其中，所述预定阈值为第一电极施加电压的30%～50%。

其中，在确定与第一电极短路的第二电极后，还包括：使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动，将采集短路的第一电极和第二电极之间的缝隙的图像与预先设定的标准图像对比，若采集到的缝隙的图像中在一定区域的图像与所述标准图像中相应区域的图像不同，则短路，从而确定短路位置为所述一定区域所在位置。

其中，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括：

设置阵列基板检测设备的纵向导轨，使所述纵向导轨所在的直线与第二电极所在的直线在同一方向；

驱动纵向导轨在横向导轨上移动以定位短路的第一电极和第二电极之间的缝隙，驱动光学镜头在所述纵向导轨上移动。

其中，使光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动的具体方式包括：

驱动阵列基板检测设备的纵向导轨在横向导轨上移动，同时驱动光学镜头在纵向导轨上移动，使得所述光学镜头沿短路的第一电极和第二电极之间的缝隙移动。

（三）有益效果