[发明专利]磨削装置和磨削方法在审
| 申请号: | 201310460036.3 | 申请日: | 2013-09-30 |
| 公开(公告)号: | CN103715078A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
| 发明(设计)人: | 中村胜 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
| 主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/301;B24B7/22 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种磨削装置和磨削方法,在对形成有分割起点的被加工物进行磨削来分割成多个芯片时,能够降低在芯片的外周产生缺口的可能性。将晶片(1)的背面(1b)粗磨削到未达到完成厚度的厚度(磨削步骤),解除保持工作台(20)对晶片的抽吸保持(抽吸解除步骤),其后,对扩张带(4)进行扩张,沿着形成有分割起点的分割预定线(3)将晶片分割成芯片(9),并且在芯片之间形成间隔(9a)(间隔形成步骤)。接着,将分割成芯片的状态的晶片再次抽吸保持于保持工作台(20)(再保持步骤),将晶片磨削到完成厚度(精磨削步骤)。由于对分割后的晶片进行抽吸保持来进行精磨削,因此防止了相邻的芯片的接触,不会在外周产生缺口。 | ||
| 搜索关键词: | 磨削 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种磨削装置,其用于磨削被加工物单元的被加工物,被加工物单元由以下部分构成:所述被加工物;带,其粘贴于所述被加工物并具有扩张性;以及环状框架,所述带的外周粘贴于该环状框架,所述磨削装置的特征在于,其具备:保持工作台,其具有保持面,该保持面经由所述带将所述被加工物单元的所述被加工物保持成能够旋转;负压生成构件,其对所述保持面作用抽吸力;环状框架固定构件,其具有在所述保持工作台的外周载置所述环状框架的环状框架载置面,该环状框架固定构件固定所述环状框架,并与所述保持工作台一起旋转;磨削构件,其具有对保持在所述保持工作台的所述被加工物进行磨削的磨削磨具;磨削进给构件,其使所述磨削构件相对于保持在所述保持工作台的所述被加工物以接近和远离的方式相对移动;以及移动构件,其使所述环状框架固定构件和所述保持工作台相对移动,来使所述保持面相对于所述环状框架载置面突出。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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