[发明专利]α‑IGZO薄膜传感阵列的影像传感器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310437965.2 申请日: 2013-09-24
公开(公告)号: CN103681717B 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 徐开文;钟凡 申请(专利权)人: 徐廷贵
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/77
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 代理人: 吴秉中
地址: 314500 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: α‑IGZO薄膜传感阵列的影像传感器及其制备方法,属于半导体器件及其制备方法技术领域,包括呈交叉排列的一组栅极线和一组数据线、以及由所述栅极线和数据线所界定的呈阵列状排布的像素单元,所述像素单元包括一个薄膜晶体管器件和一个光电二极管器件,所述薄膜晶体管器件,包括相对形成沟道的源极和漏极,所述源极和漏极之间设置有α‑IGZO薄膜岛,所述漏极与数据线连接。通过用α‑IGZO TFT制成α‑SiH PIN传感器,应用于实时X射线医疗影像(荧光透视)系统和/或无损测试系统,进而改进系统性能。使用α‑IGZO TFT后的迁移率要比目前商用非晶硅TFT的高出10~15倍,具有较低的截止电流,其信噪比也降低了约30%。大幅提高了实时医疗X射线影像品质。
搜索关键词: igzo 薄膜 传感 阵列 影像 传感器 及其 制备 方法
【主权项】:
α‑IGZO薄膜传感阵列的影像传感器,其特征在于,包括呈交叉排列的一组栅极线(1)和一组数据线(2)、以及由所述栅极线(1)和数据线(2)所界定的呈阵列状排布的像素单元(3),所述像素单元(3)包括一个薄膜晶体管器件(4)和一个光电二极管器件(5),每个薄膜晶体管器件(4)连接相应的栅极线(1)和数据线(2),每个光电二极管器件(5)连接偏压线(9)和薄膜晶体管器件(4)相应的漏极(22);所述薄膜晶体管器件(4),包括相对形成沟道的源极(21)和漏极(22),所述源极(21)和漏极(22)之间设置有α‑IGZO薄膜岛(17)和刻蚀台阶岛(16),且α‑IGZO薄膜岛(17)和刻蚀台阶岛(16)均位于栅极绝缘层(13)上方,刻蚀台阶岛(16)沉积于α‑IGZO薄膜岛(17)上方;所述漏极(22)与数据线(2)连接;上半的所述栅极线(1)连接第一栅极驱动器(10a),下半的所述栅极线(1)连接第二栅极驱动器(10b);所述数据线(2)上侧连接第一电荷放大器(6a),下侧连接第二电荷放大器(6b)。
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