[发明专利]内存测试系统及方法在审
| 申请号： | 201310342628.5 | 申请日： | 2013-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN104346275A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 彭爽 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种内存测试系统及方法，应用于计算机中，该计算机包括内存及操作系统。该方法包括步骤：在计算机的主板上通过GPIO设置跳帽，并将计算机上电进行系统初始化；检测主板上GPIO的电平是否为低电平；当GPIO的电平是高电平时，将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上；当GPIO的电平是低电平时，将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上；执行内存测试程序来测试没有被映射的内存部分；检测内存是否全部测试完毕；当还有内存没有被测试，通过修改GPIO上的跳帽设置改变GPIO的电平。实施本发明，能够将操作系统使用的虚拟地址映射到不同的物理内存地址上，从而完整地测试到计算机的整个物理内存。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种内存测试系统，运行于计算机中，该计算机包括内存及操作系统，其特征在于，所述的内存测试系统包括：初始化模块，用于在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽，以及将计算机上电进行系统初始化操作；电平检测模块，用于检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平，当GPIO的电平是高电平时，将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上，当GPIO的电平是低电平时，将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上；内存测试模块，用于执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分，以及检测检测内存是否全部被测试到；以及电平修改模块，用于当还有部分内存没有被测试到，通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。
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