[发明专利]内存测试系统及方法在审
| 申请号: | 201310342628.5 | 申请日: | 2013-08-07 |
| 公开(公告)号: | CN104346275A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
| 发明(设计)人: | 彭爽 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内存 测试 系统 方法 | ||
1.一种内存测试系统,运行于计算机中,该计算机包括内存及操作系统,其特征在于,所述的内存测试系统包括:
初始化模块,用于在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;
电平检测模块,用于检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平,当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上,当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;
内存测试模块,用于执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分,以及检测检测内存是否全部被测试到;以及
电平修改模块,用于当还有部分内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。
2.如权利要求1所述的内存测试系统,其特征在于,所述的内存测试模块还用于判断被测试的内存部分是否测试成功,当被测试的内存部分测试不成功时,在所述计算机的显示器上显示内存没有通过测试的提示信息。
3.如权利要求2所述的内存测试系统,其特征在于,当操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址时,所述的被测试的内存部分则为第二物理地址的内存部分,当操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址时,所述的被测试的内存部分则为第一物理地址的内存部分。
4.如权利要求1所述的内存测试系统,其特征在于,当GPIO的电平为低电平时,所述的电平修改模块则使GPIO上的跳帽失效来将GPIO的电平修改为高电平。
5.如权利要求1所述的内存测试系统,其特征在于,当GPIO的电平为高电平时,所述的电平修改模块则使GPIO上的跳帽有效来将GPIO的电平修改为低电平。
6.一种内存测试方法,应用于计算机中,该计算机包括内存及操作系统,其特征在于,该方法包括步骤:
在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;
检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平;
当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上;
当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;
执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分;
检测内存是否全部被测试到;以及
当还有内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。
7.如权利要求6所述的内存测试方法,其特征在于,该方法还包括步骤:
判断被测试的内存部分是否测试成功;以及
当被测试的内存部分测试不成功时,在所述计算机的显示器上显示内存没有通过测试的提示信息。
8.如权利要求7所述的内存测试方法,其特征在于,当操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址时,所述被测试的内存部分则为第二物理地址的内存部分,当操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址时,所述被测试的内存部分则为第一物理地址的内存部分。
9.如权利要求6所述的内存测试方法,其特征在于,当GPIO的电平为低电平时,则使所述GPIO上的跳帽失效来将GPIO的电平修改为高电平。
10.如权利要求6所述的内存测试方法,其特征在于,当GPIO的电平为高电平时,则使所述GPIO上的跳帽有效来将GPIO的电平修改为低电平。
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