[发明专利]内存测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310342628.5 申请日: 2013-08-07
公开(公告)号: CN104346275A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 彭爽 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 内存 测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种计算机部件测试系统及方法,特别是关于一种内存测试系统及方法。

背景技术

在有物理内存的计算机系统中,无论是研发阶段还是生产阶段,都需要有程序对插入的物理内存进行检测,以确保计算机系统能够正常运行。在实际的内存测试程序中,往往存在不全面性,比如在Linux系统下的测试程序,往往测试的是虚拟内存。这样,计算机系统所占用的内存就没有办法测试,出现测试漏洞。另外,计算机系统没有侦测到的内存也没有办法测试,从而造成内存测试漏洞的问题。

为了测试计算机系统中物理内存均被测试到,甚至是操作系统占用的部份也能测试到,就必须提供一种机制,使操作系统能够自由的搬动。这就有个复杂的问题,操作系统中许多的地址不是相对地址,而且许多的代码之间存在依赖关系,基本上不可能在操作系统运行的过程中进行动态的搬移,否则操作系统往往会当机。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种内存测试系统及方法,能够将操作系统或内存测试程序使用的虚拟内存地址映射到不同的物理内存地址上,从而完整地测试到计算机的整个物理内存。

所述的内存测试系统运行于计算机中,该计算机包括内存及操作系统。该内存测试系统包括:初始化模块,用于在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;电平检测模块,用于检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平,当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上,当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;内存测试模块,用于执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分,以及检测内存是否全部被测试到;电平修改模块,用于还有部分内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。

所述的内存测试方法应用于计算机中,该计算机包括内存及操作系统。该方法包括步骤:在计算机的主板上通过GPIO设置一个跳帽,以及将计算机上电进行系统初始化操作;检测计算机的主板上GPIO的电平是低电平还是高电平;当GPIO的电平是高电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第一物理地址上;当GPIO的电平是低电平时,将操作系统使用的虚拟地址映射到内存的第二物理地址上;执行内存测试程序指令来测试没有被映射的内存部分;检测内存是否全部被测试到;当还有部分内存没有被测试到,通过修改GPIO上的跳帽设置来改变GPIO的电平。

相较于现有技术,本发明所述的基于场景侦测的实时影像记录系统及方法,能够将操作系统或内存测试程序使用的虚拟内存地址映射到不同的物理内存地址上,操作系统或者应用程序可直接使用虚拟内存,从而完整地测试到计算机的整个物理内存。

附图说明

图1是本发明内存测试系统较佳实施例的运行环境示意图。

图2是本发明内存测试方法较佳实施例的流程图。

图3是测试内存分布第一实施例的示意图。

图4是测试内存分布第二实施例的示意图。

主要元件符号说明

具体实施方式

参阅图1所示,是本发明内存测试系统10较佳实施例的运行环境示意图。在本实施例中,所述的内存测试系统10安装并运行于计算机1中,该计算机1还包括,但不仅限于,内存11、操作系统(OS)12、显示器13、存储器14及中央处理器15。该内存11、操作系统12、显示器13、存储器14及中央处理器15均能透过系统总线与所述的内存测试系统10进行数据交互。所述的计算机1可以为一种桌上型计算机(PC)、笔记本计算机(Notebook)、服务器、Pad装置等计算设备。所述的内存11可以为一种存储空间为512M、1G或2G的物理内存。

在本实施例中,所述的内存测试系统10包括初始化模块101、电平检测模块102、内存测试模块103、以及电平修改模块104。本发明所称的功能模块是指一种能够被计算机1的中央处理器15所执行并且能够完成固定功能的一系列程序指令段,其存储在存储器14中。该存储器14可以为计算机1的内部存储设备,例如内存11,也可以为计算机1的内部存储设备,例如硬盘等。关于各功能模块101-104将在图2的流程图中作具体描述。

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