[发明专利]芯片内部压降测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201310258435.1 | 申请日： | 2013-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN103344817A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 张译夫;秦石强;崔明艳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R19/10 | 分类号： | G01R19/10 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 祁建国;梁挥 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片内部压降的测量装置及方法，包括多级压控振荡器，用于将芯片内部压降转换为振荡信号，并且所述压控振荡器环振级数可选择多级、所述压控振荡器频率可配置；可调时间窗口控制模块，用于产生一个可调的时间窗口，控制所述压控振荡器在所述的时间窗口内工作；计数器，用于采样所述时间窗口内所述压控振荡器的振荡次数，并输出不同工作环境下的压降结果，满足了对芯片内部压降测量的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 内部 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种芯片内部压降的测量装置，其特征在于，该装置包括：多级压控振荡器，用于将芯片内部压降转换为振荡信号，并且所述压控振荡器环振级数可选择多级、所述压控振荡器频率可配置；可调时间窗口控制模块，用于产生一个可调的时间窗口，控制所述压控振荡器在所述的时间窗口内工作；以及计数器，用于采样所述时间窗口内所述压控振荡器的振荡次数，并输出结果。
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