[发明专利]一种细间距POP式封装结构和封装方法在审

专利信息
申请号: 201310258430.9 申请日: 2013-06-25
公开(公告)号: CN103346131A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 黄卫东;陆原;孙鹏;耿菲;陈波;杨建伟;王宏杰 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/13 分类号: H01L23/13;H01L21/48
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 唐灵;常亮
地址: 214135 江苏省无锡市菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种细间距POP式封装结构和封装方法,通过在上下基板上开设凹槽,将下基板的芯片封装在凹槽对应的区域内,使得上下基板之间的间距被大大缩短,如此一来,能够使得原本需要大于芯片封装厚度的焊球尺寸被缩减,从而大大减少该焊球间的间距。与现有技术相比,本发明的技术方案结构简单,易于制作,且由于避免了破坏性打孔,使得产品的品质得到提升。
搜索关键词: 一种 间距 pop 封装 结构 方法
【主权项】:
一种细间距POP式封装结构,包括上下两个互连的封装体,上、下封装体之间有电互通,所述上封装体的基板为上基板、下封装体的基板为下基板,其特征在于:所述上基板和下基板中的至少一块上开设有凹槽,该凹槽对应下基板的芯片封装区,一个或多个芯片以倒装方式贴装于该下基板的芯片封装区内,并与下基板形成电互通,在凹槽以外的区域对应上、下封装体的互连区,该互连区上设有若干焊球,上基板与下基板之间通过所述焊球形成互连,该互连形成至少一个电连接,上基板与下基板的间隙内还设有填充物。
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