[发明专利]基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310217262.9 申请日: 2013-06-03
公开(公告)号: CN104215326A 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 陈绍武;丁彬;刘福华;斯阳;杨鹏翎;黄伟;吴勇;王平;冯刚;陶蒙蒙 申请(专利权)人: 西北核技术研究所;东华大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司 61100 代理人: 李中群
地址: 710024 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置,包括晶体谐振器、起振电路和频率测量单元,起振电路的输入端与晶体谐振器的电极相连,起振电路的输出端与频率测量单元电连接,待测量光束入射在晶体谐振器的工作面;本发明的测量方法和装置在应用中将入射激光高反射,降低了对测量系统承受激光辐照能力的要求,可用于长时间出光条件下高能激光参数测量,在实施中将激光的功率转换为频率测量,利用现代频率测量技术具有的测量精度和分辨率高等特点,使其可满足不同功率条件下激光参数的测量,适用性强、动态范围大同时具有结构紧凑、工程化简单等特点。
搜索关键词: 基于 晶体 谐振器 功率 参数 测量方法 装置
【主权项】:
一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法,其特征在于,包括以下步骤:[1]晶体谐振器起振,测量谐振频率本底值f0;[2]将功率为p1的稳定输出的标定光束入射至晶体谐振器工作面,测量得到谐振频率的峰值f1;[3]待测量光束入射至晶体谐振器的工作面,测量得到谐振频率值的峰值f;[4]待测量光束的光功率为:p=p1(f‑f0)/(f1‑f0),其中p为待测量光束的光功率。
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