[发明专利]比特失效模式统计方法及装置在审
| 申请号： | 201310216925.5 | 申请日： | 2013-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN103279409A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 魏文 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 陆花 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种比特失效模式统计方法及装置，将获取的待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据利用Perl脚本进行分析和计算，不仅极大的降低了生产成本，又能够快速的统计出每批产品的比特失效模式结果，从而直观的展现出何种比特失效模式对产品的良率有着较大的影响，也就能够直指工艺缺陷，有利于有目的的改善制造工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 比特 失效 模式 统计 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种比特失效模式统计方法，其特征在于，包括：获取待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据；利用Perl脚本分析所述原始数据；输出比特失效模式结果。
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