[发明专利]光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法有效
| 申请号： | 201310199553.X | 申请日： | 2013-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN103424343A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 衣笠静一郎 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本东京都千代田*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种容易维护的光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法。该光学式粒子检测装置具有：发光的光源（1）、对光进行传播的光纤（2）、对从光纤（2）的出射端部射出的光进行聚光的照射侧聚光透镜（12）、使由照射侧聚光透镜（12）聚光的光横穿包含粒子的气流的喷射机构（3）。在此，粒子包含微生物、无害或者有害的化学物质、灰尘、尘土以及尘埃等垃圾等。光纤（2）例如是多模光纤。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 粒子 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种光学式粒子检测装置，其特征在于，具有：发光的光源；对所述光进行传播的光纤；对从所述光纤的端部射出的所述光进行聚光的照射侧聚光透镜；以及使由所述照射侧聚光透镜聚光的光横穿包含粒子的气流的喷射机构。
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