[发明专利]光学式粒子检测装置以及粒子的检测方法

权利要求书

1.一种光学式粒子检测装置，其特征在于，具有：

发光的光源；

对所述光进行传播的光纤；

对从所述光纤的端部射出的所述光进行聚光的照射侧聚光透镜；以及

使由所述照射侧聚光透镜聚光的光横穿包含粒子的气流的喷射机构。

2.如权利要求1所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

所述光纤为多模光纤。

3.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

所述光纤的长度被设定为，使得从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量从中心对称地分布。

4.如权利要求3所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出正态分布。

5.如权利要求3所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出矩形的分布。

6.如权利要求3所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出梯形的分布。

7.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

所述光源为发光二极管。

8.如权利要求7所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

所述发光二极管具有发光层和配置在所述发光层上的衬垫电极，

所述光纤的长度被设定为，使得在从该光纤的端部射出的光中，所述衬垫电极的像消失。

9.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

还具有对由于所述粒子而散射的光进行检测的散射光检测部。

10.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

还具有对被照射了所述光的所述粒子所发出的荧光进行检测的荧光检测部。

11.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

还具有被配置在所述光纤和所述照射侧聚光透镜之间的、使得从所述光纤的端部射出的所述光成为平行光的照射侧平行光透镜。

12.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

还具有使横穿了所述气流的所述光成为平行光的检测侧平行光透镜。

13.如权利要求1或2所述的光学式粒子检测装置，其特征在于，

还具有对横穿了所述气流的所述光进行聚光的检测侧聚光透镜。

14.一种粒子的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

从光源发光的步骤；

利用光纤对所述光进行传播的步骤；

对从所述光纤的端部射出的所述光进行聚光的步骤；以及

使所述被聚光的光横穿包含粒子的气流的步骤。

15.如权利要求14述的粒子的检测方法，其特征在于，

所述光纤为多模光纤。

16.如权利要求14或15所述的粒子的检测方法，其特征在于，

所述光纤的长度被设定为，使得从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量从中心对称地分布。

17.如权利要求16所述的粒子的检测方法，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出正态分布。

18.如权利要求16所述的粒子的检测方法，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出矩形的分布。

19.如权利要求16所述的粒子的检测方法，其特征在于，

从所述光纤的端部射出的所述光的截面的光量示出梯形的分布。

20.如权利要求14或15所述的粒子的检测方法，其特征在于，

所述光源为发光二极管。

21.如权利要求20所述的粒子的检测方法，其特征在于，

所述发光二极管具有发光层和配置在所述发光层上的衬垫电极，

所述光纤的长度被设定为，使得在从该光纤的端部射出的光中，所述衬垫电极的像消失。