[发明专利]一种导电插塞和TSV的形成方法在审
申请号: | 201310169515.X | 申请日: | 2013-05-09 |
公开(公告)号: | CN104143527A | 公开(公告)日: | 2014-11-12 |
发明(设计)人: | 孙光宇 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种导电插塞和TSV形成方法。所述导电插塞形成方法包括:在半导体基底上形成盲孔,在向所述盲孔中以及在半导体基底上方形成金属层后,先去除所述半导体基底上方部分或全部厚度的所述金属层,之后再采用退火工艺对所述基底进行加热处理,实现所述金属层内晶粒的细化、再生长和均匀化,以优化所述金属层内部结构。其中,在去除所述半导体基底上方部分或全部厚度的所述金属层后,可有效减少退火过程中基于金属层形变而产生的应力的同时,充分释放半导体基底以及半导体基底上的各层结构基于热胀冷缩出现的体积形变而产生的应力,减少基底和各层结构间的作用力,避免在半导体基底以及半导体基底中各层结构的连接面上出现开裂。 | ||
搜索关键词: | 一种 导电 tsv 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种导电插塞的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体基底;刻蚀所述半导体基底,在所述半导体基底内形成盲孔;在所述盲孔的底部和侧壁以及半导体基底上形成绝缘层;在所述绝缘层上形成金属层,所述金属层填充满所述盲孔;去除所述半导体基底上方部分厚度或全部厚度的所述金属层;进行退火工艺后,再进行去除工艺使所述半导体基底表面完全暴露,形成导电插塞。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310169515.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的制造方法和半导体器件
- 下一篇:一种半导体器件的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造