[发明专利]相邻连线间的寄生电容参数估算方法和电路优化方法有效

专利信息
申请号: 201310109638.4 申请日: 2013-03-29
公开(公告)号: CN103150455B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚;吕志强 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种相邻连线间的寄生电容参数估算方法和电路优化方法,在电路优化过程中应用相邻连线间的寄生电容参数估算方法。同时,在电路优化过程中把对所述电路物理版图中各个相邻连线间的寄生电容参数进行提取得到寄生电容参数提取值这一步放置在电路优化的循环体之外,在所述循环体中,代之循环执行费时极少的所述依据构建的电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数估算电路中相邻连线之间的寄生电容参数的步骤加速了整个优化过程,提高了优化效率。
搜索关键词: 相邻 连线 寄生 电容 参数 估算 方法 电路 优化
【主权项】:
一种相邻连线间的寄生电容参数估算方法,应用于电路优化,其特征在于,包括:获取待优化电路中的各个电路器件的结构参数p1,p2,...,pn,n的取值为能够决定所述各个电路器件的几何尺寸的结构参数的个数,n的取值为正整数;依据所述各个电路器件的所述结构参数p1,p2,...,pn构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数;以所述相邻连线间的寄生电容参数估算函数估算电路中相邻连线间的寄生电容参数;获取待优化电路中的各个电路器件的结构参数p1,p2,...,pn,依据所述各个电路器件的所述结构参数p1,p2,...,pn构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数的过程包括:以所述结构参数p1,p2,...,pn为函数参量,分别构建器件外框在X方向上的尺寸函数和器件外框在Y方向上的尺寸函数;将所述各个电路器件分为m个组,每组内有s个器件,其中,m×s=j,m和s的取值为小于等于j的正整数,依据m组个电路器件的XL1.......XLs和YL1......YLs,分别构建相邻连线段之间间距函数和相邻连线段之间投影长度函数,其中,XL1.......XLs表示s个器件的器件外框在X方向上的尺寸,YL1......YLs表示s个器件的器件外框在Y方向上的尺寸;依据所述相邻连线段之间间距函数得到d,同时,依据所述相邻连线段之间投影长度函数得到Lp,并以所述d和所述Lp为参量,构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数,其中,d表示相邻连线段之间间距,Lp表示相邻连线段之间投影长度。
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