[发明专利]相邻连线间的寄生电容参数估算方法和电路优化方法

权利要求书

1.一种相邻连线间的寄生电容参数估算方法，应用于电路优化，其特征在于，包括：

获取待优化电路中的各个电路器件的结构参数p₁,p₂,...,p_n，n的取值为能够决定所述各个电路器件的几何尺寸的结构参数的个数，n的取值为正整数；

依据所述各个电路器件的所述结构参数p₁,p₂,...,p_n构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数；

以所述相邻连线间的寄生电容参数估算函数估算电路中相邻连线间的寄生电容参数；

获取待优化电路中的各个电路器件的结构参数p₁,p₂,...,p_n，依据所述各个电路器件的所述结构参数p₁,p₂,...,p_n构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数的过程包括：

以所述结构参数p₁,p₂,...,p_n为函数参量，分别构建器件外框在X方向上的尺寸函数和器件外框在Y方向上的尺寸函数；

将所述各个电路器件分为m个组，每组内有s个器件，其中，m×s＝j，m和s的取值为小于等于j的正整数，依据m组个电路器件的XL₁.......XL_s和YL₁......YL_s，分别构建相邻连线段之间间距函数和相邻连线段之间投影长度函数，其中，XL₁.......XL_s表示s个器件的器件外框在X方向上的尺寸，YL₁......YL_s表示s个器件的器件外框在Y方向上的尺寸；

依据所述相邻连线段之间间距函数得到d，同时，依据所述相邻连线段之间投影长度函数得到Lp，并以所述d和所述Lp为参量，构建所述待优化电路中相邻连线间的寄生电容参数估算函数，其中，d表示相邻连线段之间间距，Lp表示相邻连线段之间投影长度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述器件外框在X方向上的尺寸函数包括：

XL＝f_XL(p₁,p₂,…,p_n)

＝c_1,2×p₁×p₂+…+c_n-1，n×p_n-1×p_n+c₁×p₁+c₂×p₂+…+c_n×p_n+c₀

其中，XL表示器件外框在X方向上的尺寸，c_1,2,...,c_n-1,n,c₁,c₂,...,c_n,c₀表示结构参数及结构参数之间对XL的影响系数，f_XL表示XL函数曲线；

所述器件外框在Y方向上的尺寸函数包括：

YL＝f_YL(p₁,p₂,…,p_n)

＝q_1,2×p₁×p₂+…+q_n-1,n×p_n-1×p_n+q₁×p₁+q₂×p₂+…+q_n×p_n+q₀

其中，YL表示器件外框在Y方向上的尺寸，q_1,2,...,q_n-1,n,q₁,q₂,...,q_n,q₀表示结构参数及结构参数之间对YL的影响系数，f_YL表示YL函数曲线。