[发明专利]锂电池保护电路的测试方法和系统有效
| 申请号： | 201310103696.6 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN104076271B | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 季强 | 申请（专利权）人： | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02;G01R31/07 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201114 上海市闵行区浦江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种锂电池保护电路的测试方法和系统。本发明中，通过确保探针与熔丝的接触良好，保证VBG测试电压和VDET测试电压准确，避免因电压测量不准导致的熔丝烧断错误，使得在CP测试时根据VBG和VDET测试电压，进行熔丝修复，剔除无法修复的坏品，节省封装和测试成本，从而提高FT的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 锂电池 保护 电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种锂电池保护电路的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：A.根据锂电池保护电路的测试原理，做好测试前的准备，包含：设计并制造熔丝卡、探针卡；编辑测试程序；B.执行测试程序，对锂电池保护电路的各个管脚进行开短路测试；C.对通过所述开短路测试的锂电池保护电路，根据测量得到的带隙电压VBG电压，进行熔丝修复：判断所述探针卡上的探针和所述熔丝卡上的熔丝的接触是否良好，如是，则根据测试规范测试VBG电压，并根据读出来的数据进行熔丝修复；修复完成后，再次判断探针和熔丝的接触是否良好，如是，则通过测量VBG电压判断熔丝修复是否成功；D.对通过VBG电压测试的锂电池保护电路，根据测量得到的过充保护VDET电压，进行熔丝修复：判断探针和晶圆的接触是否良好，如是，则根据测试规范测试VDET电压，并根据读出来的数据进行熔丝修复；修复完成后，再次判断探针和晶圆的接触是否良好，如是，则通过测量VDET电压判断熔丝修复是否成功。
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