[发明专利]锂电池保护电路的测试方法和系统有效
| 申请号: | 201310103696.6 | 申请日: | 2013-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN104076271B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
| 发明(设计)人: | 季强 | 申请(专利权)人: | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/02;G01R31/07 |
| 代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 | 代理人: | 成丽杰 |
| 地址: | 201114 上海市闵行区浦江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 锂电池 保护 电路 测试 方法 系统 | ||
1.一种锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,包含以下步骤:
A.根据锂电池保护电路的测试原理,做好测试前的准备,包含:设计并制造熔丝卡、探针卡;编辑测试程序;
B.执行测试程序,对锂电池保护电路的各个管脚进行开短路测试;
C.对通过所述开短路测试的锂电池保护电路,根据测量得到的带隙电压VBG电压,进行熔丝修复:
判断所述探针卡上的探针和所述熔丝卡上的熔丝的接触是否良好,如是,则根据测试规范测试VBG电压,并根据读出来的数据进行熔丝修复;修复完成后,再次判断探针和熔丝的接触是否良好,如是,则通过测量VBG电压判断熔丝修复是否成功;
D.对通过VBG电压测试的锂电池保护电路,根据测量得到的过充保护VDET电压,进行熔丝修复:
判断探针和晶圆的接触是否良好,如是,则根据测试规范测试VDET电压,并根据读出来的数据进行熔丝修复;修复完成后,再次判断探针和晶圆的接触是否良好,如是,则通过测量VDET电压判断熔丝修复是否成功。
2.根据权利要求1所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,在所述步骤C和所述步骤D中,通过以下子步骤判断探针和熔丝的接触是否良好:
测量各熔丝之间的电阻;
判断所述测量得到的电阻是否在预设电阻范围内,如是,则判定探针和熔丝的接触良好;如否,则调整探针卡,直到探针和熔丝的接触良好;
其中,在所述步骤C中,所述预设电阻范围为第一电阻范围;在所述步骤D中,所述预设电阻范围为第二电阻范围;所述第一电阻范围与所述第二电阻范围不相等。
3.根据权利要求2所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,所述第一电阻范围在100Ω至200Ω之间;所述第二电阻范围在190KΩ至230KΩ。
4.根据权利要求1所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,在所述步骤C中,通过以下子步骤判断熔丝修复是否成功:
判断所述测量得到的VBG电压是否在预先设定的第一电压范围内,如是,则判定熔丝修复成功;
如否,则判断连接性和设备给出的测试条件是否正常,如正常,则判定被测晶圆为不可修复的坏品。
5.根据权利要求1所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,在所述步骤D中,通过以下子步骤判断熔丝修复是否成功:
判断所述测量得到的VDET电压是否在预先设定的第二电压范围内,如是,则判定熔丝修复成功;
如否,则判断连接性和设备给出的测试条件是否正常,如正常,则判定被测晶圆为不可修复的坏品。
6.根据权利要求1所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,在所述步骤A中,包含以下子步骤:
根据锂电池保护电路的测试原理,设计并制造测试负载板、熔丝卡、继电器驱动电路和被测器件接口;
根据锂电池保护电路的测试规范,在测试设备上编辑测试程序;
根据探针卡脚位定义,焊接连线到所述被测器件接口;
连接好所述测试负载板、熔丝卡和被测器件接口,同时准备好锂电池保护电路的晶圆和探针卡的连接。
7.根据权利要求6所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,所述熔丝卡采用电容充电方式烧断所述锂电池保护电路的晶圆内的熔丝。
8.根据权利要求1至7任一项所述的锂电池保护电路的测试方法,其特征在于,将被测器件接口集成在所述探针卡上;
采用独立的测试电源完成电容充电烧断熔丝。
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