[发明专利]间隙量测方法

摘要

一种间隙量测方法用于量测间隔迭置的导电薄膜及导电基板的间隙。其提供一量测装置并存取一量测装置影像及导电薄膜反射的一量测装置反射影像。将量测装置移向导电薄膜直到量测装置影像接触量测装置反射影像，并且定义其为第一位置。对导电薄膜施一预定压力使其朝向导电基板变形。将量测装置再次移向导电薄膜直到量测装置影像再次接触量测装置反射影像，并且定义其为第二位置。依据第一位置与第二位置产生一间距值。本发明的间隙量测方法所需的设备取得容易且价格低于习知量测设备(如电子显微镜或雷射量测仪)，因此本发明的间隙量测方法不单操作简便、量测精确而且成本低廉。

主权项

一种间隙量测方法，其用于量测一电阻式触控面板中的一导电薄膜及一导电基板的间隙，所述导电薄膜与所述导电基板间隔迭置，其特征在于，该间隙量测方法包含：a、提供一量测装置，其中该量测装置邻近所述电阻式触控面板；b、存取一影像数据，其中该影像数据中包含有一量测装置影像及所述导电薄膜上所反射的一量测装置反射影像；c、将该量测装置朝向所述导电薄膜移动；d、当该量测装置影像接触该量测装置反射影像，停止移动该量测装置；e、接续步骤d，定义该量测装置的当前位置为第一位置；f、将一压力装置放置于所述导电薄膜，使所述导电薄膜朝向所述导电基板产生变形；g、将该量测装置再次朝向所述导电薄膜移动；h、当该量测装置影像再次接触该量测装置反射影像，再次停止移动该量测装置；i、接续步骤h，定义该量测装置的当前位置为第二位置；j、依据该第一位置与该第二位置的差异产生一间距值。