[发明专利]间隙量测方法

权利要求书

1.一种间隙量测方法，其用于量测一电阻式触控面板中的一导电薄膜及一导电基板的间隙，所述导电薄膜与所述导电基板间隔迭置，其特征在于，该间隙量测方法包含：

a、提供一量测装置，其中该量测装置邻近所述电阻式触控面板；

b、存取一影像数据，其中该影像数据中包含有一量测装置影像及所述导电薄膜上所反射的一量测装置反射影像；

c、将该量测装置朝向所述导电薄膜移动；

d、当该量测装置影像接触该量测装置反射影像，停止移动该量测装置；

e、接续步骤d，定义该量测装置的当前位置为一第一位置；

f、对所述导电薄膜施以一预定压力，使所述导电薄膜朝向所述导电基板产生变形；

g、将该量测装置再次朝向所述导电薄膜移动；

h、当该量测装置影像再次接触该量测装置反射影像，再次停止移动该量测装置；

i、接续步骤h，定义该量测装置的当前位置为一第二位置；

j、依据该第一位置与该第二位置的差异产生一间距值。

2.根据权利要求1所述的间隙量测方法，其特征在于，于步骤a中还提供一影像存取装置借以在步骤b中存取该影像数据。

3.根据权利要求2所述的间隙量测方法，其特征在于，于步骤a中还提供一影像分析单元借以在步骤b中接收该影像数据，以及在步骤d中分析该影像数据而得知该量测装置影像接触该量测装置反射影像。

4.根据权利要求2所述的间隙量测方法，其特征在于，于步骤a中还提供一影像分析单元借以在步骤b中接收该影像数据，以及在步骤h中分析该影像数据而得知该量测装置影像再次接触该量测装置反射影像。

5.根据权利要求1所述的间隙量测方法，其特征在于，该量测装置包含可活动的一探针，借以相对于所述导电薄膜移动。

6.根据权利要求5所述的间隙量测方法，其特征在于，在步骤c中将该探针朝向所述导电薄膜移动，并且于步骤d中停止移动该探针。

7.根据权利要求6所述的间隙量测方法，其特征在于，于步骤g中将该探针再次朝向所述导电薄膜移动，并且于步骤h中再次停止移动该探针。

8.根据权利要求1所述的间隙量测方法，其特征在于，该量测装置包含一计算单元借以定义该探针所位于的该第一位置及该第二位置。

9.根据权利要求8所述的间隙量测方法，其特征在于，该计算单元依据该第一位置与该第二位置产生该间距值。

10.根据权利要求1所述的间隙量测方法，其特征在于，于步骤a中还提供一压力装置借以在步骤f中对所述导电薄膜施以该预定压力。