[发明专利]间隙量测方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种间隙量测方法，具体涉及一种应用于电阻式触控面板检测的间隙量测方法。

【背景技术】

在电子产品制造完成后的检验工作中，量测电子产品的组件间隙及尺寸公差为常见的检验方法。一般来说，电子显微镜或是雷射量测仪是习知量测微小间距的常用仪器。

电子显微镜或是雷射量测仪的单价皆相当高。当电子产品处于非量产阶段时，如生产少量样品或是小量试产，为电子产品的检验而购买电子显微镜或是雷射量测仪相当不符合经济效益。再者，人员在训练后才会操作电子显微镜或是雷射量测仪，因此人员的量测仪器训练将会增加成本。故当电子产品处于非量产阶段时，电子显微镜或是雷射量测仪等并非适合的量测仪器。

【发明内容】

本发明的目的，在于提供一种间隙量测方法，其用于量测一电阻式触控面板中的导电薄膜及导电基板的间隙。前述电阻式触控面板的导电薄膜与导电基板为间隔迭置。

为了达成上述目的，本发明提供一种间隙量测方法，其概述如后：

提供一量测装置，而且量测装置邻近于电阻式触控面板。接着，存取一影像数据，影像数据中包含有一量测装置影像及导电薄膜上所反射的一量测装置反射影像。

将量测装置朝向导电薄膜移动。当量测装置影像接触量测装置反射影像时，即停止移动量测装置。并且，定义量测装置的当前位置为第一位置。

对导电薄膜施以一预定压力，使导电薄膜朝向导电基板产生变形。再将量测装置再次朝向导电薄膜移动。当量测装置影像再次接触量测装置反射影像时，即再次停止移动量测装置。并且，定义量测装置的当前位置为第二位置。最后，依据第一位置与第二位置的差异产生导电薄膜朝与导电基板之间的间距值。

相较于现有技术，本发明的间隙量测方法所需的设备取得容易且价格低于习知量测设备(如电子显微镜或雷射量测仪)，因此本发明的间隙量测方法不单操作简便、量测精确而且成本低廉。

【附图说明】

图1绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例的流程图。

图2绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例中所提供组件的示意图。

图3绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例中定义第一位置的一实施示意图。

图4绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例中定义第一位置的另一实施示意图。

图5绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例中定义第二位置的一实施示意图。

图6绘示为本发明间隙量测方法于第一实施例中定义第二位置的另一实施示意图。

图7绘示为本发明间隙量测方法于第二实施例的流程图。

图8绘示为本发明间隙量测方法于第三实施例中所提供组件的示意图。

图9绘示为本发明间隙量测方法于第三实施例中的一实施示意图。

图10绘示为本发明间隙量测方法于第三实施例中的另一实施示意图。

【具体实施方式】

参阅图1及图2，本发明的较佳实施例提供一种间隙量测方法，此间隙量测方法应用于一电阻式触控面板10。另参阅图3，前述的电阻式触控面板10包含有一导电薄膜11及一导电基板12。导电薄膜11与导电基板12为间隔迭置，因此在导电薄膜11与导电基板12之间形成一间隙。电阻式触控面板10较佳地放置在一置放面20上以待量测。本发明的间隙量测方法用于量测前述的间隙，其步骤详述如后。

步骤a：首先提供一量测装置100。量测装置100包含有一支架110、一量测表120以及一探针130。支架110设置在置放面20之上，支架110包含有一底座111以及一组活动连杆112。底座111支撑在前述的放置面20。活动连杆112的其中一端连结在底座111，活动连杆112的另一端则连结量测表120。探针130设置在量测表120上，而且探针130可以相对于量测表120轴向移动。量测表120包含一个计算单元(图中未示)。计算单元用以侦测探针130的位置并且依此产生一数值以供量测表120显示。

在本实施例中，借由调整活动连杆112，探针130接近于电阻式触控面板10的导电薄膜11。另外，探针130建议被调整为实质上垂直于导电薄膜11。当探针130接近于电阻式触控面板10的导电薄膜11时，在导电薄膜11上反射探针130的影像而形成一个探针倒影131。