[发明专利]使用气态进样的等离子体原子发射光谱分析方法和装置无效
| 申请号： | 201310079492.3 | 申请日： | 2013-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN103196894A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 段旭川 | 申请（专利权）人： | 天津师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 | 代理人： | 朱红星 |
| 地址： | 300387 *** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种使用气态进样的等离子体原子发射光谱分析方法和装置，其方法包括使用气态进样分离基体干扰并提高检测灵敏度、使用等离子体激发元素产生光谱、使用一个或多个滤光片来进一步排除光谱干扰及使用光电检测器来检测元素光谱。其装置包括：元素挥发物发生分离装置1，等离子体形成装置2，滤光片装置3和检测装置4。本仪器装置中不使用光栅做分光元件，通过同时使用元素挥发物形成分离装置及一个或多个滤光片来进行选择性测定元素并使测定具有很高的灵敏度。该分析装置具有装置简单、价格低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 气态 等离子体 原子 发射光谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种使用气态进样的等离子体原子发射光谱法测定元素的装置，其特征在于该装置包括：元素挥发物发生分离装置（1）、使元素电离发光的等离子体装置（2）、至少含有一个滤光片的分光装置（3）、透镜装置（5）、含有光电倍增管或CCD等固态检测器的光电检测装置（4）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津师范大学，未经天津师范大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310079492.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种流体定量注射设备
- 下一篇：自动滚胶机
