[发明专利]使用气态进样的等离子体原子发射光谱分析方法和装置无效
| 申请号: | 201310079492.3 | 申请日: | 2013-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN103196894A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
| 发明(设计)人: | 段旭川 | 申请(专利权)人: | 天津师范大学 |
| 主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73 |
| 代理公司: | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 | 代理人: | 朱红星 |
| 地址: | 300387 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 气态 等离子体 原子 发射光谱分析 方法 装置 | ||
1. 一种使用气态进样的等离子体原子发射光谱法测定元素的装置,其特征在于该装置包括:元素挥发物发生分离装置(1)、使元素电离发光的等离子体装置(2)、至少含有一个滤光片的分光装置(3)、透镜装置(5)、含有光电倍增管或CCD等固态检测器的光电检测装置(4)。
2.权利要求1所述的装置,其中透镜装置(5)在等离子体装置(2)与滤光片(3)之间。
3.权利要求1所述的装置,其特征在于当使用硼氢化钠为还原剂来使待测元素形成氢化物挥发物时,在元素挥发物发生分离装置(1)与等离子体装置(2)之间加有挥发物净化装置(6)。
4.权利要求3所述的装置,其特征在于净化装置(6)包括:吸附装置(7)或(和)半导体制冷装置(8)、载气及元素挥发物入口(a)、载气及元素挥发物出口(b)。
5.权利要求4所述的装置,其特征在于吸附装置(7)包括:吸附管(19)、吸附剂(20);半导体制冷装置(8)包括:水雾冷凝管(21)、半导体制冷片(22)。
6.权利要求1所述装置,其特征在于所述的等离子体装置(2)包括电感耦合等离子体、直流等离子体、微波诱导等离子体、电容耦合微波等离子体、微波等离子体炬、交直流电弧、电火花及辉光放电等离子体。
7.一种采用权利要求1所述的使用气态挥发物进样的等离子体原子发射光谱装置测定元素的方法,特征在于按如下的步骤进行:
(1)通过化学蒸汽发生反应,使元素形成①二氧化碳、一氧化碳、氯仿含碳气态化合物;或形成②氮气、一氧化氮、二氧化氮、氨气含氮挥发化合物;或形成③元素氢化物、单质汞挥发物;或④元素以其它形式形成的气态挥发物;
(2)将含有生成挥发物的混合溶液排入到气一液分离器中,在该分离器中溶液中的挥发物被流量100-400毫升/分钟载气,载入到等离子体中电离发光;
(3)通过使用一个或多个滤光片和透镜使元素的光谱进入到检测器光电倍增管中,经过与含元素的标准溶液比较,测得待测样品溶液中无机元素总量。
8.权利要求7所述测定元素的方法,其特征在于检测的元素为:碳、氮、碘、砷、汞、锑、铋、铅、锡、硒、锗、碲、镉、金、银、锌、锰、铁、钴、镍、钒、铜、铬、钌、铑、钯、锇、铱、铂。
9.权利要求8所述测定元素的方法,其中检测的元素为碳、氮、碘、砷、汞、锑、铋、铅、锡、硒、锗、碲、镉、金、银、铑、钯、锇、铱。
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