[发明专利]用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备有效
| 申请号： | 201310071521.1 | 申请日： | 2013-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN103368887B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 尹胜槿;权义根;金尚骏 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04L27/00 | 分类号： | H04L27/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王艳娇;张云珠 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备。所述方法包括：基于调制信号的采样信号产生多个采样集，并从所述多个采样集确定一个采样集。所述方法还包括：基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差，确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值。所述方法还包括基于所述包络分量值检测调制信号的包络。 | ||
| 搜索关键词： | 采样信号 采样集 采样 包络 方法和设备 调制信号 检测包 检测 | ||
【主权项】：
1.一种检测包络的方法，所述方法包括：基于调制信号的采样信号产生多个采样集；从所述多个采样集确定一个采样集；基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差的平方以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差的乘积，确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值；基于所述包络分量值检测调制信号的包络，其中，所述方法还包括：从调制信号的多个采样信号确定正好包括四个连续采样信号的采样信号，其中，所述多个采样集包括三个采样集，所述三个采样集中的每个采样集包括所述四个连续采样信号中相应的一对连续采样信号，其中，所述四个连续采样信号包括按相等的时间间隔连续采样的第一采样信号、第二采样信号、第三采样信号和第四采样信号，其中，确定的采样集为包括第二采样信号与第三采样信号的采样集。
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