[发明专利]用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备有效
| 申请号: | 201310071521.1 | 申请日: | 2013-03-06 |
| 公开(公告)号: | CN103368887B | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
| 发明(设计)人: | 尹胜槿;权义根;金尚骏 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | H04L27/00 | 分类号: | H04L27/00 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王艳娇;张云珠 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 采样信号 采样集 采样 包络 方法和设备 调制信号 检测包 检测 | ||
1.一种检测包络的方法,所述方法包括:
基于调制信号的采样信号产生多个采样集;
从所述多个采样集确定一个采样集;
基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差的平方以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差的乘积,确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值;
基于所述包络分量值检测调制信号的包络,
其中,所述方法还包括:
从调制信号的多个采样信号确定正好包括四个连续采样信号的采样信号,
其中,所述多个采样集包括三个采样集,所述三个采样集中的每个采样集包括所述四个连续采样信号中相应的一对连续采样信号,
其中,所述四个连续采样信号包括按相等的时间间隔连续采样的第一采样信号、第二采样信号、第三采样信号和第四采样信号,
其中,确定的采样集为包括第二采样信号与第三采样信号的采样集。
2.如权利要求1所述的方法,其中,
对包括在确定的采样集中的采样信号之间的差执行平方运算;
对包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差执行乘法;
对通过平方运算和乘法所确定的值执行减法来确定包络分量值。
3.如权利要求1所述的方法,还包括:
确定与采样信号相关的多个包络分量值;
确定所述多个包络分量值的平均值。
4.如权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:
调整所述时间间隔。
5.一种被配置为用于检测包络的设备,所述设备包括:
确定单元,被配置为用于:
基于调制信号的采样信号产生多个采样集,
从所述多个采样集确定一个采样集;
计算单元,被配置为用于基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差的平方以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差的乘积,确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值;
检测单元,被配置为用于基于包络分量值检测调制信号的包络,
其中,所述设备还包括:
提取单元,被配置为用于从调制信号的多个采样信号确定正好包括四个连续采样信号的采样信号,
其中,所述多个采样集包括三个采样集,所述三个采样集的每个采样集包括所述四个连续采样信号中相应的一对采样信号,
其中,所述四个连续采样信号包括按相等的时间间隔连续采样的第一采样信号、第二采样信号、第三采样信号和第四采样信号,
其中,确定的采样集为包括第二采样信号与第三采样信号的采样集。
6.如权利要求5所述的设备,其中,计算单元包括:
乘法器,被配置为用于:
对包括在确定的采样集中的采样信号之间的差执行平方运算,
对包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差执行乘法;
加法器,被配置为用于对通过平方运算和乘法所确定的值执行减法以确定包络分量值。
7.如权利要求5所述的设备,其中:
计算单元还被配置为用于确定与采样信号有关的多个包络分量值;
所述设备还包括被配置为用于确定所述多个包络分量值的平均值的平均值运算器。
8.如权利要求5所述的设备,其中,所述设备还包括:
调整单元,被配置为用于调整所述时间间隔。
9.如权利要求5所述的设备,其中,计算单元还被配置为用于进一步基于缩放因子确定包络分量值。
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