[发明专利]用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201310071521.1 申请日: 2013-03-06
公开(公告)号: CN103368887B 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 尹胜槿;权义根;金尚骏 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H04L27/00 分类号: H04L27/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 王艳娇;张云珠
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 采样信号 采样集 采样 包络 方法和设备 调制信号 检测包 检测
【说明书】:

提供一种用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备。所述方法包括:基于调制信号的采样信号产生多个采样集,并从所述多个采样集确定一个采样集。所述方法还包括:基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差,确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值。所述方法还包括基于所述包络分量值检测调制信号的包络。

本申请要求于2012年3月29日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0032064号韩国专利申请的利益,该申请的全部公开为所有目的通过引用合并于此。

技术领域

以下描述涉及一种用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备。

背景技术

包络检测已在语音处理领域、图像处理领域、数据通信领域等中被用来处理信号,在这些领域中,调制信号被接收并被解调。包络检测已还被用在诸如能量或数据的传输的领域中。

信号处理被用于包络检测方法,例如,在频带中使用带通滤波器或低通滤波器的方案、在通过希伯特转换(Hilbert transform)获得的解析信号中使用峰值保持(peakhold)的方案等。然而,所述信号处理对于电路实现可能会要求相当大的电路复杂性。另外,在使用诸如二极管、电容器等的模拟电路的方案中,电路复杂性低,但是难以检测复杂的包络。此外,除了在频带中使用滤波器的方案以外,通过偏置的包络检测的准确度可能会被降低。

发明内容

在一个总的方面中,提供一种检测包络的方法,所述方法包括:基于调制信号的采样信号产生多个采样集;从所述多个采样集确定一个采样集。所述方法还包括:基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差,确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号有关的包络分量值。所述方法还包括基于所述包络分量值检测调制信号的包络。

在另一总的方面中,提供一种被配置为用于检测包络的设备,所述设备包括:确定单元,被配置为用于基于调制信号的采样信号产生多个采样集,并从所述多个采样集确定一个采样集。所述设备还包括:计算单元,被配置为用于基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差,确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号有关的包络分量值。所述设备还包括:检测单元,被配置为用于基于所述包络分量值检测调制信号的包络。

从以下的详细描述、附图和权利要求,其它的特征和方面将会清楚。

附图说明

图1是示出具有直流(DC)偏移的正弦波的示例以及从所述正弦波检测的包络的示例的曲线图。

图2是示出基于六个检测信号之间的差来检测包络的方法的示例的示图。

图3是示出基于采样信号之间的差来检测包络的方法的示例的流程图。

图4是示出在图3的方法中确定包络分量值的操作的示例的流程图。

图5是示出基于五个采样信号之间的差来检测包络的方法的示例的示图。

图6是示出基于四个采样信号之间的差来检测包络的方法的示例的示图。

图7是示出通过将在基于四个采样信号之间的差来检测包络的方法中的缩放因子与在基于五个采样信号之间的差来检测包络的方法中的缩放因子进行比较而获得的结果的示例的曲线图。

图8是示出基于四个采样信号之间的差检测的包络的示例的曲线图,其中,在所述四个采样信号中固定长度和固定间隙都是Δt,并且采样率为1/Δt。

图9是示出基于采样信号之间的差来检测包络的设备的示例的框图。

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