[发明专利]一种测试芯片版图的生成方法无效
| 申请号： | 201310065810.0 | 申请日： | 2013-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN103150430A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 刘得金;郑勇军;欧阳旭;潘伟伟 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人： | 王桂名 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试芯片版图的生成方法，包括下述步骤：先选取目标版图区域，选取后摆放一次或重复摆放多次成单元阵列，再将重复单元连接，最后将重复连接的单元作为测试结构摆放于可寻址测试芯片版图中并且布线。本发明由于自动产生测试结构，自动布线，极大的缩短了测试芯片版图的设计周期，极大的降低了测试芯片版图的设计过程中的错误率，提高了测试精度；由于采用基于可寻址方法学的知识产权核，极大的提高了测试芯片的面积利用率，极大的降低了工艺测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 版图 生成 方法 | ||
【主权项】：
一种测试芯片版图的生成方法，其特征在于包括下述步骤：先选取目标版图区域，选取后摆放一次或重复摆放多次成单元阵列，再将重复单元连接，最后将重复连接的单元作为测试结构摆放于可寻址测试芯片版图中并且布线。
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