[发明专利]用于诊断集成电路的方法和装置有效
| 申请号： | 201310064605.2 | 申请日： | 2010-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN103197232A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 唐健霖;张简维平;刘钦洲 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;孙征 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于诊断集成电路中的故障的系统和方法。在一个实施例中，该装置包括与缓冲器链串联连接的诊断单元。诊断单元包括多个逻辑运算器，当被激活时，使从缓冲器链接收的信号反相。使来自缓冲器链的信号的反相允许诊断单元通过用于测试方法的扫描链设计预先确定包含故障来确定集成电路中的故障的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 诊断 集成电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于诊断集成电路的方法，包括：使用扫描链测试图案测试所述集成电路；如果所述测试表明所述集成电路不像设计的那样执行，则激活所述集成电路内的一个或多个位置处的一个或多个诊断单元；使用所述扫描链测试图案重新测试所述集成电路，所述一个或多个诊断单元使所述集成电路中的操作信号选择性地反相；以及基于所述集成电路的重新测试识别所述一个或多个位置中的第一位置处的操作状态。
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