[发明专利]用于诊断集成电路的方法和装置

权利要求书

1.一种用于诊断集成电路的方法，包括：

使用扫描链测试图案测试所述集成电路；

如果所述测试表明所述集成电路不像设计的那样执行，则激活所述集成电路内的一个或多个位置处的一个或多个诊断单元；

使用所述扫描链测试图案重新测试所述集成电路，所述一个或多个诊断单元使所述集成电路中的操作信号选择性地反相；以及

基于所述集成电路的重新测试识别所述一个或多个位置中的第一位置处的操作状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，使用扫描链测试图案测试所述集成电路包括：

将扫描使能信号设置成可用，从而将多个触发器可通信地连接成扫描链；

将所述扫描链测试图案时钟输入所述扫描链；

将所述扫描使能信号设置为不可用，从而可通信地连接所述多个触发器用于所述集成电路中的正常操作；

使所述集成电路操作预定数量的时钟周期；

将所述扫描使能信号设置成可用，从而将所述多个触发器可通信地连接成所述扫描链；

从所述扫描链时钟输出第一所得图案；

将所述第一所得图案与理想图案进行比较；以及

如果所述第一所得图案与所述理想图案不同，则识别所述第一所得图案与所述理想图案不同的比特位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述激活一个或多个诊断单元包括：

识别所述一个或多个诊断单元中的具体诊断单元，所述具体诊断单元沿着存储所述扫描链测试图案的比特值的所述集成电路的第一触发器和对应于第一所得图案与理想图案不同的比特位置的所述集成电路的第二触发器之间的信号路径被可通信地连接；以及

将所述具体诊断单元的诊断单元使能信号设定为使能状态，从而使所述具体诊断单元工作。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述操作信号反相包括：

将所述一个或多个诊断单元的具体诊断单元的诊断控制信号设定为反相状态，从而使得所述诊断单元使所述操作信号反相；以及

使所述集成电路操作预定数量的时钟周期，从而产生重新测试所得图案。

5.根据权利要求2所述的方法，其中，所述识别所述一个或多个位置中的第一位置处的操作状态包括：

如果重新测试所得图案与理想图案不同，则将沿着所述一个或多个诊断单元中的具体诊断单元和对应于所述第一所得图案不同于所述理想图案的比特位置的第一触发器之间的信号路径的第一集成电路元件识别为不像设计的那样操作；以及

如果重新测试所得图案与理想图案相同，则将沿着对应于输送所述第一触发器的所述扫描链测试图案的比特位置的第二触发器和所述一个或多个诊断单元中的具体诊断单元之间的信号路径的第二集成电路元件识别为不像设计的那样操作。