[发明专利]用于老化测试设备的测试板有效
| 申请号： | 201310062402.X | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103293457A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 吴孝镇;崔永培;金昌奎 | 申请（专利权）人： | 韩商联测股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人： | 郑青松 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于老化测试设备的测试板。根据本发明公开了如下技术：至少将属于同一列的插座布置在一个传送线路组上，采用飞越式结构，从而能够使测试信号依次施加到所选择的半导体元件，并具有考虑了装载半导体元件时的阻抗降低的电路，由此能够进行高速处理。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种用于老化测试设备的测试板，其特征在于，包括：多个插座，装载有要测试的半导体元件，以矩阵形态设置；电路板，具有电路，该电路具有用于将来自测试基板侧的测试信号施加到所述多个插座的传送线路组；以及连接器，结合在所述电路板的一侧，并与测试基板侧电连接，所述多个插座中属于同一列的插座同时布置在一个传送线路组上，具有飞越式结构。
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